[發(fā)明專利]高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510525509.2 | 申請(qǐng)日: | 2015-08-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105092948A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張玎橙;黃家才 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京工程學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01R19/175 | 分類號(hào): | G01R19/175 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 211167 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高精度 交流 信號(hào) 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置,還涉及一種高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)方法,屬于信號(hào)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)電路種類繁多,其中利用光耦器件進(jìn)行過(guò)零檢測(cè)的電路得到廣泛的應(yīng)用。
現(xiàn)有光耦器件檢測(cè)裝置是用兩個(gè)光耦構(gòu)成,其檢測(cè)方法是利用交流信號(hào)在接近過(guò)零點(diǎn)時(shí)光耦截止的特性實(shí)現(xiàn)過(guò)零點(diǎn)的檢測(cè)。由于光耦的截止并不是嚴(yán)格對(duì)應(yīng)交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn),因此存在死區(qū)、過(guò)零不精確、誤差大等問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置,解決現(xiàn)有技術(shù)中光耦器件過(guò)零檢測(cè)存在死區(qū)、過(guò)零不精確、誤差大的技術(shù)問(wèn)題。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置,包括光耦器件U1、光耦器件U2和可編程邏輯器件,所述光耦器件U1、光耦器件U2分別包括:各自的發(fā)光二極管和與發(fā)光二極管對(duì)應(yīng)設(shè)置的光敏三極管;
待檢測(cè)的交流信號(hào)的L端分別與光耦器件U1的陽(yáng)極、光耦器件U2的陰極電連接,N端分別與光耦器件U1的陰極、光耦器件U2的陽(yáng)極電連接;
所述光耦器件U1的集電極、光耦器件U2的集電極分別與可編程邏輯器件的I/O輸入口連接,同時(shí)分別與電源VCC的輸出端電連接;光耦器件U1的發(fā)射極、光耦器件U2的發(fā)射極分別接地;
所述可編程邏輯器件的I/O輸出口與主電路數(shù)字量輸入口連接;
當(dāng)交流信號(hào)的L-N端波形輸出正半周時(shí),光耦器件U1的發(fā)光二極管導(dǎo)通并發(fā)光,光耦器件U1的光敏三極管導(dǎo)通,輸出低電平;同時(shí)光耦器件U2的發(fā)光二極管截止,光耦器件U2的光敏三極管截止,輸出高電平;
當(dāng)交流信號(hào)的L-N端波形輸出正半周時(shí),光耦器件U2的發(fā)光二極管導(dǎo)通并發(fā)光,光耦器件U2的光敏三極管導(dǎo)通,輸出低電平;同時(shí)光耦器件U1的發(fā)光二極管截止,光耦器件U1的光敏三極管截止,輸出高電平;
所述可編程邏輯器件根據(jù)光耦器件U1、光耦器件U2輸出的電平信號(hào)檢測(cè)過(guò)零點(diǎn)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述交流信號(hào)的L端依次串聯(lián)限流電阻R1、限流電阻R2后,再分別與光耦器件U1的陽(yáng)極、光耦器件U2的陰極電連接。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述光耦器件U1的集電極、光耦器件U2的集電極分別通過(guò)各自的上拉電阻與電源VCC的輸出端電連接。
本發(fā)明的另一目的在于,提供一種高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)方法,包括如下步驟:
步驟一:可編程邏輯器件采集光耦器件U1、光耦器件U2輸出的電平信號(hào),并對(duì)采集的電平信號(hào)取反,分別記為:S1、S2;
步驟二:可編程邏輯器件對(duì)信號(hào)S1和S2進(jìn)行或非邏輯運(yùn)算,得到方波信號(hào)S3;
步驟三:可編程邏輯器件測(cè)量方波信號(hào)S3的脈沖寬度;
步驟四:可編程邏輯器件在方波信號(hào)S3寬度的一半時(shí),通過(guò)I/O輸出口輸出窄脈沖S4,S4即對(duì)應(yīng)交流信號(hào)L、N的過(guò)零點(diǎn)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明所達(dá)到的有益效果是:結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、穩(wěn)定可靠,使用方便,具有較強(qiáng)的抗干擾能力。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明提供的高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置的電路圖。
圖2是本發(fā)明提供的高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步描述。以下實(shí)施例僅用于更加清楚地說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案,而不能以此來(lái)限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
如圖1所示,高精度交流信號(hào)過(guò)零檢測(cè)裝置,包括光耦器件U1、光耦器件U2和可編程邏輯器件CPLD,光耦器件U1、光耦器件U2分別包括:各自的發(fā)光二極管和與發(fā)光二極管對(duì)應(yīng)設(shè)置的光敏三極管。可編程邏輯器件CPLD的I/O輸出口與主電路數(shù)字量輸入口連接。
待檢測(cè)的交流信號(hào)的L端依次串聯(lián)限流電阻R1、限流電阻R2后,再分別與光耦器件U1的陽(yáng)極、光耦器件U2的陰極電連接,N端分別與光耦器件U1的陰極、光耦器件U2的陽(yáng)極電連接。光耦器件U1的集電極、光耦器件U2的集電極分別與可編程邏輯器件CPLD的I/O輸入口連接,同時(shí)分別通過(guò)各自的上拉電阻與電源VCC的輸出端電連接。光耦器件U1的發(fā)射極、光耦器件U2的發(fā)射極分別接地。
當(dāng)交流信號(hào)的L-N端波形輸出正半周時(shí),光耦器件U1的發(fā)光二極管導(dǎo)通并發(fā)光,光耦器件U1的光敏三極管導(dǎo)通,輸出低電平;同時(shí)光耦器件U2的發(fā)光二極管截止,光耦器件U2的光敏三極管截止,輸出高電平。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南京工程學(xué)院,未經(jīng)南京工程學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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