[發明專利]液晶顯示裝置及其像素測試方法

有效

• 申請號: 201510484428.2
• 申請日: 2015-08-07
• 公開（公告）號: CN105372888B
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 李俊燁
• 申請（專利權）人: 樂金顯示有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;劉久亮

液晶顯示裝置及其像素測試方法。公開了一種液晶顯示LCD裝置以及一種用于測試該LCD裝置的像素的方法，其中，上下彼此相鄰的像素被布置在顯示區域中以共享選通線，并且像素的自動探測測試圖案被布置在非顯示區域中。該LCD裝置包括：多個像素，其被布置在顯示區域中；以及測試圖案，其被布置在非顯示區域中，以將測試信號提供給所述多個像素中的每一個，其中，所述多個像素當中的上下彼此相鄰的兩個像素共享單個選通線并且從彼此不同的不同數據線接收數據電壓，并且測試圖案包括至少一個數據短路條和至少一個開關單元，以將測試信號按照顏色提供給所述多個像素中的每一個。

技術領域

本發明涉及液晶顯示(LCD)裝置以及用于測試該LCD裝置的像素的方法，在該LCD裝置中，在垂直方向(即，一個選通線的上下方向)上彼此相鄰的像素被布置在顯示區域中以共享選通線，并且自動探測測試圖案被布置在非顯示區域中。

背景技術

隨著諸如移動終端和筆記本計算機的各種便攜式電子裝置的發展，針對可應用于這些裝置的平板顯示裝置的需求不斷增加。

在這些平板顯示裝置當中，LCD裝置由于諸如用于大量生產的高度發展的技術、容易作為驅動手段、低功耗、高畫面質量和大尺寸屏幕的各種優點而適用于便攜式裝置，并且LCD裝置的應用領域已經增加。

LCD裝置通過將從外部輸入的圖像信號轉換成數據電壓并且控制用于透射多個像素的液晶層的光的透射率來顯示基于圖像信號的圖像。

LCD裝置通過執行以下工藝來制造：在薄膜晶體管(TFT)陣列基板(下基板)上形成包括TFT的各種圖案；在濾色器陣列基板上形成包括濾色器層的各種圖案；將TFT陣列基板和濾色器陣列基板彼此接合并且在TFT陣列基板和濾色器陣列基板之間注入液晶的液晶單元工藝；以及將TFT陣列基板與驅動電路連接的模塊工藝。

在制造了TFT陣列基板之后，執行測試用于檢測諸如形成在基板上的線的短路的線缺陷、TFT的缺陷和像素圖案的缺陷的自動探測的工藝。

用于自動探測測試的測試圖案被布置在液晶面板的非顯示區域中。短路條被用作用于自動探測測試的測試圖案，并且驅動信號通過短路條而施加到選通線和數據線，由此測試TFT陣列基板上的線和像素是否已經正常地形成。

圖1簡要例示了根據現有技術的布置有自動探測測試圖案的LCD裝置。圖1示出了液晶面板的TFT陣列基板。

參照圖1，根據現有技術的LCD裝置的TFT陣列基板包括顯示區域A/A和非顯示區域N/A。

在顯示區域A/A中，多個選通線12和多個數據線14被布置為彼此交叉，并且由選通線12和數據線14之間的交叉來限定多個像素16。薄膜晶體管TFT和存儲電容器Cst被布置在所述多個像素中的每一個中。

圖1示出了一次選通/一個數據的像素結構。紅色、綠色和藍色的像素被布置成條紋的形狀。將來自相同的選通線的掃描信號提供給布置在一條水平線上的像素，由此它們的TFT被切換。布置在一條垂直線上的相同的顏色的像素通過從相同的數據線接收數據電壓來顯示圖像。

在非顯示區域N/A中，測試圖案被布置為測試多個選通線12、多個數據線14和多個像素16是否已經正常地形成。多個使能開關20和多個數據短路條被布置為測試圖案。所述多個使能開關20通過多個鏈接線40連接到所述多個數據短路條30，并且通過鏈接線和數據焊盤(未示出)連接到多個數據線14。

盡管圖1例示了布置有三個數據短路條30，然而對數據短路條30的數量沒有限制，并且兩個數據短路條或六個數據短路條通常可以被布置為執行自動探測測試。

如果布置有兩個數據短路條，則多個數據線可以被劃分成偶數線和奇數線，并且全部像素被劃分成1/2，由此對像素進行測試。如果布置有三個數據短路條，則多個數據線可以被劃分成紅色像素的數據線、綠色像素的數據線以及藍色像素的數據線，由此針對各個顏色對像素進行測試。