[發明專利]一種測量經緯儀高度的方法有效
| 申請號: | 201510464911.4 | 申請日: | 2015-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN105066954B | 公開(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發明(設計)人: | 董均貴;呂海波 | 申請(專利權)人: | 桂林理工大學 |
| 主分類號: | G01C3/22 | 分類號: | G01C3/22 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 541004 廣*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 經緯儀 高度 方法 | ||
技術領域
本發明屬于工程測量技術領域,特別涉及一種測量經緯儀高度的方法。
背景技術
目前測量經緯儀儀器高度的方法主要是用鋼尺直接測量基點到經緯儀側面的距離,再經過一定三角轉化求出儀器高度。此方法測量誤差較大,且人為因素影響大,不能滿足工程測量高精度要求。
發明內容
本發明的目的是克服現有技術的不足,提供一種測量經緯儀高度的方法。
本發明的思路:運用光的反射原理,由光入射角與反射角相等關系和平行線間夾角關系能夠求出經緯儀水平軸到基點的距離,即得出經緯儀高度。
具體步驟為:
將經緯儀置于測量時的基點D上方并對中整平,A點為經緯儀水平軸線與豎直軸線的交點,將帶垂直水準氣泡的塔尺立于距經緯儀0.95~1.05米的位置并調整至垂直,保持塔尺與經緯儀的豎直軸線平行,再將經緯儀調至水平,并標出經緯儀物鏡十字絲橫絲在塔尺上的投影線與塔尺的交點B,然后在塔尺上B點放一塊直徑10厘米的反光體,反光體從B點緩慢向下滑動,同時經緯儀視線隨反光體緩慢向下移動,當經緯儀目鏡中能夠觀測到D點在反光體中成的像時,反光體停止移動,調節經緯儀使物鏡十字絲交點對準反光體中D點的像,固定經緯儀,拿走反光體,將此時物鏡十字絲橫絲在塔尺上的投影線與塔尺的交點C標出,用鋼直尺量出B和C兩點間的距離由光的反射原理可知,∠ACE=∠DCE=∠BAC,即為經緯儀的高度。
本發明中使用的塔尺能夠用其它可控垂直裝置代替。
與現有技術相比,本發明的有益效果是:本發明原理簡單明確、材料簡單廉價、操作簡便、精度高、易掌握、便于工程運用、易于大規模推廣。
附圖說明
圖1是本發明實施例中經緯儀平測示意圖。
圖2是本發明實施例中經緯儀斜測示意圖。
圖中標記:1-經緯儀;2-腳架;3-塔尺;4-平面鏡。
具體實施方式
下面將結合具體實施例對本發明進行詳細闡述,以使本發明的優點和特征能更易被本領域技術人員理解。
實施例:
請參閱圖1、圖2,本實施例的具體步驟為:
將經緯儀1通過腳架2置于測量時的基點D上方并對中整平,A點為經緯儀1水平軸線與豎直軸線的交點,將帶垂直水準氣泡的塔尺3立于距經緯儀1一米的位置并調整至垂直,保持塔尺3與經緯儀1的豎直軸線平行,再將經緯儀1調至水平,并標出經緯儀1物鏡十字絲橫絲在塔尺3上的投影線與塔尺3的交點B,然后在塔尺3上B點放一塊直徑10厘米的平面鏡4,平面鏡4從B點緩慢向下滑動,同時經緯儀1視線隨平面鏡4緩慢向下移動,當經緯儀1目鏡中能夠觀測到D點在平面鏡4中成的像時,平面鏡4停止移動,調節經緯儀1使物鏡十字絲交點對準平面鏡4中D點的像,固定經緯儀1,拿走平面鏡4,將此時物鏡十字絲橫絲在塔尺3上的投影線與塔尺3的交點C標出,用鋼直尺量出B和C兩點間的距離由光的反射原理可知,∠ACE=∠DCE=∠BAC,即為經緯儀1的高度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于桂林理工大學,未經桂林理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510464911.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:路面縱斷面的高程信息獲取方法
- 下一篇:一種弧形面精度檢測裝置
- 同類專利
- 專利分類





