[發明專利]一種OLED微型顯示器缺陷檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201510464136.2
• 申請日: 2015-07-31
• 公開（公告）號: CN105044127A
• 公開（公告）日: 2015-11-11
• 發明（設計）人: 李一民
• 申請（專利權）人: 深圳市星火輝煌系統工程有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 任哲夫

技術領域

本發明屬于OLED生產技術領域，涉及一種OLED顯示器檢測裝置，具體地說涉及一種OLED微型顯示器缺陷檢測裝置及檢測方法。

背景技術

有機發光二極管(Organic-EmittingDiode，簡稱OLED)顯示器由于具有低功耗、寬視角、主動發光、易于實現柔性制造等優點受到了人們越來越多的關注，并將成為繼TFT-LCD后的下一代顯示器。由于OLED面板的制備過程較為復雜，最終得到的面板難免會出現一些缺陷，因此對生產線上初步完成的OLED面板進行缺陷檢測是OLED面板生產流程中非常重要的步驟，是產品良率和質量的重要保證。

長期以來，OLED顯示器的顯示缺陷檢驗都是采用人工的方式進行，而對于OLED微型顯示器來講，由于其具有尺寸小(小于1英寸)，分辨率高(不低于800×600)等特點，肉眼直接檢測不具有可操作性，通常檢驗人員使用顯微鏡放大，然后將顯示器人為分成多個區域，手動切換顯示圖像，通過人工觀測的方法檢查判斷顯示器的各種不良，這種方式花費時間長，檢驗效率低，且檢驗結果受檢驗員的視力、情緒、顏色心理、責任心、經驗、疲勞程度等影響較大，檢驗一致性較差。

發明內容

為此，本發明所要解決的技術問題在于現有技術中采用顯微鏡放大并通過人工觀測的方法檢測OLED微型顯示器的不良，檢測時間長、效率低，檢測結果受檢驗員主觀影響較大，檢驗一致性較差，從而提出一種檢測時間短、效率高、檢測結果準確、一致性高的OLED微型顯示器缺陷檢測裝置及檢測方法。

為解決上述技術問題，本發明的技術方案為：

本發明提供一種OLED微型顯示器缺陷檢測裝置，其包括，

測試板，用于固定和驅動所述OLED微型顯示器；

相機，設置于所述測試板上方，用于采集所述測試板上的所述OLED微型顯示器的圖像；

計算機，與所述相機電連接，用于控制所述相機采集測試圖案，并對所述測試圖案進行分析并輸出分析結果。

作為優選，所述相機為高分辨率工業相機。

本發明還提供一種OLED微型顯示器缺陷檢測方法，其包括如下步驟：

(1)用所述測試板固定并驅動點亮所述OLED微型顯示器，將所述OLED微型顯示器調節至測試畫面；

(2)所述計算機控制所述相機采集所述測試畫面，并將采集到的圖片由所述相機傳輸至所述計算機；

(3)對采集到的圖片進行預處理；

(4)對所述OLED微型顯示器缺陷圖像進行定位；

(5)通過所述計算機的運算，顯現出缺陷；

(6)分割缺陷圖像，觀察缺陷形態，統計缺陷類型及數量。

作為優選，所述步驟(3)中，所述預處理包括對采集到的圖片進行中值濾波、增強對比度和幾何校正。

作為優選，所述步驟(4)中，所述定位是通過確定缺陷圖像的像素角點，然后進一步計算所述缺陷圖像的像素寬度、高度、像素間的水平間距和豎直間距。

作為優選，所述步驟(5)中，所述運算為三次差影運算迭代對缺陷圖像的進行代數運算，以去除所述缺陷圖像像素分布的紋理特征。

作為優選，所述差影運算中模板的匹配點為缺陷圖像的所述像素角點。

作為優選，所述步驟(6)中，分割缺陷圖像的方法為改進的K-均值聚類方法。

作為優選，所述改進具體為：指定初始聚類為0，圖像最大灰度值為初始前景聚類中心。

本發明的上述技術方案相比現有技術具有以下優點：

(1)本發明提供的OLED微型顯示器缺陷檢測裝置，包括用于固定和驅動所述OLED微型顯示器的測試板，用于采集所述測試板上顯示器圖像的相機和用于控制相機采集測試圖案，并對測試圖案進行分析并輸出分析結果的計算機，所述相機與被檢測微型顯示器不直接接觸，避免了在檢測中引入新的缺陷；相機分辨率高，能清晰識別出顯示器缺陷，機器視覺響應快速、實時可靠，可以重復進行相同的操作，把人從簡單的重復勞動中解放出來，檢驗一致性好。

(2)本發明提供的OLED微型顯示器缺陷檢測方法，通過中值濾波、增強對比度和幾何校正的預處理步驟，提高了缺陷圖像的質量，為后續計算分析打下了良好基礎，并采用三次差影運算迭代去除所述缺陷圖像像素分布的紋理特征，使缺陷圖像清晰度進一步提高，通過改進的K-均值聚類方法分割缺陷圖像，減少了后續運算過程中的迭代次數，提高了檢測效率。

附圖說明

為了使本發明的內容更容易被清楚的理解，下面根據本發明的具體實施例并結合附圖，對本發明作進一步詳細的說明，其中