[發(fā)明專利]一種小型紅外目標(biāo)模擬裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510463000.X | 申請日: | 2015-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN106403713A | 公開(公告)日: | 2017-02-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王占濤;沙春哲;常虹;林森;劉勇;吳躍;蔡雯琳;郭雨蓉 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航天計量測試技術(shù)研究所;中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | F41G3/32 | 分類號: | F41G3/32 |
| 代理公司: | 核工業(yè)專利中心11007 | 代理人: | 高尚梅 |
| 地址: | 100076 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 小型 紅外 目標(biāo) 模擬 裝置 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航天計量測試技術(shù)研究所;中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院,未經(jīng)北京航天計量測試技術(shù)研究所;中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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- 目標(biāo)檢測裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測系統(tǒng)及目標(biāo)檢測方法
- 目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測方法和目標(biāo)檢測裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





