[發(fā)明專利]一種基于相關(guān)系數(shù)分析法計(jì)算測(cè)月雷達(dá)探測(cè)深度的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510458312.1
• 申請(qǐng)日: 2015-07-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105044696B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邢樹(shù)果;蘇彥;封劍青;戴舜;丁春雨;肖媛;李春來(lái)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院國(guó)家天文臺(tái)
• 主分類號(hào): G01S7/40
• 分類號(hào): G01S7/40
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種基于相關(guān)系數(shù)分析法計(jì)算測(cè)月雷達(dá)探測(cè)深度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，對(duì)測(cè)月雷達(dá)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理，得到雷達(dá)數(shù)據(jù)矩陣；

步驟2，對(duì)雷達(dá)數(shù)據(jù)矩陣進(jìn)行相關(guān)計(jì)算，得到相關(guān)系數(shù)矩陣；

步驟3，在相關(guān)系數(shù)矩陣中，以列為處理單位，遍歷所有列，分析相關(guān)系數(shù)矩陣中的相關(guān)性，確定由高相關(guān)信號(hào)到隨機(jī)相關(guān)信號(hào)的過(guò)渡點(diǎn)作為該列的探測(cè)深度；

步驟2進(jìn)一步包括：

步驟201，采用如下公式，確定每個(gè)采樣點(diǎn)的處理區(qū)間x_i,j，x_i,j的大小為n；

$x_{i,j}=\left\{\begin{array}{c}data(1:n,j),i\<(n-1)/2\\ data(all-n+1:all,j),i\>all-(n-1)/2\\ data(i-(n-1)/2:i+(n-1)/2,j),else\end{array}\right.$

其中，i為采樣點(diǎn)，j為雷達(dá)道數(shù)，n為每段區(qū)間大小，data(1:n,j)表示選取雷達(dá)數(shù)據(jù)第j道，從采樣點(diǎn)1到采樣點(diǎn)n的數(shù)據(jù)，all為數(shù)據(jù)長(zhǎng)度；

步驟202，計(jì)算x_i,j區(qū)間各點(diǎn)的均值x_i,j'；

${x_{i,j}}^{\′}=\frac{1}{n}\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}{x}_{i,j};$

步驟203，計(jì)算一道數(shù)據(jù)各點(diǎn)位置處與相鄰道的相關(guān)系數(shù)，采用如下公式：

$c(i,j)=\frac{\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}(x_{i,j}-{x_{i,j}}^{\′})(x_{i,j+1}-{x_{i,j+1}}^{\′})}{\sqrt{\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}(x_{i,j}-{x_{i,j}}^{\′})\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}(x_{i,j+1}-{x_{i,j+1}}^{\′})}};$

步驟204，遍歷整個(gè)雷達(dá)道數(shù)，重復(fù)步驟201到203，得到雷達(dá)相關(guān)系數(shù)矩陣c(i,j)。