[發明專利]角度檢測裝置、測量裝置

有效

• 申請號: 201510457977.0
• 申請日: 2015-07-30
• 公開（公告）號: CN105333858B
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 彌延聰
• 申請（專利權）人: 株式會社拓普康
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 郭放;許偉群

1.一種角度檢測裝置，其特征在于，

包括：

多個發光機構；

多個受光機構，其夾著刻度盤而與各個上述發光機構成對，且具有直線狀的受光區域；以及

控制機構，其用于控制各個上述發光機構和各個上述受光機構，

上述控制機構具有：

模擬前端，其數量比上述多個受光機構少，其將從各個上述受光機構所接收的模擬受光信號轉換為數字受光信號；

運算處理部，其利用上述數字受光信號來檢測上述刻度盤的旋轉姿態，

信號切換部，能夠選擇性地將各個上述受光機構中的任意一個與上述模擬前端連接，以及

驅動電路，向上述發光機構、上述受光機構、上述模擬前端、上述信號切換部以及上述運算處理部發送合適的信號，

其中，上述模擬前端不具有暫時存儲上述模擬受光信號和數字受光信號的功能，

通過從上述驅動電路向上述信號切換部發送切換信號來切換向上述模擬前端輸出遍及上述受光區域的整個區域的上述模擬受光信號的上述受光機構，

在上述控制機構中，對所有的上述受光機構依次進行以下步驟：使各個上述發光機構同時發光而使各個上述受光機構受光之后，將從各個上述受光機構中的任意一個向上述模擬前端輸出遍及上述受光區域的整個區域的上述模擬受光信號而生成的上述數字受光信號輸入至上述運算處理部。

2.根據權利要求1所述的角度檢測裝置，其特征在于，各個上述受光機構具有能夠防止基于受光的上述模擬受光信號的劣化并且保持上述模擬受光信號的結構。

3.根據權利要求2所述的角度檢測裝置，其特征在于，各個上述受光機構使用互補金屬氧化物半導體圖像傳感器來構成。

4.根據權利要求1所述的角度檢測裝置，其特征在于，上述控制機構向各個上述受光機構發送彼此相同的積累驅動信號，據此使各個上述受光機構同時受光。

5.根據權利要求1所述的角度檢測裝置，其特征在于，上述控制機構為了消除各個上述發光機構的個體差異而向各個上述發光機構獨立且同時發送調節發光強度的發光信號。

6.根據權利要求1所述的角度檢測裝置，其特征在于，成對的上述發光機構與上述受光機構在相對于上述刻度盤的旋轉中心呈旋轉對稱的位置處設置為多個組。

7.根據權利要求1所述的角度檢測裝置，其特征在于，上述控制機構具有設置在上述模擬前端與上述運算處理部之間的用于存儲上述數字受光信號的數字數據存儲部，

在上述控制機構中，對所有的上述受光機構依次執行將從各個上述受光機構的任意一個向上述模擬前端輸出遍及上述受光區域的整個區域的上述模擬受光信號而生成的上述數字受光信號輸入至上述數字數據存儲部的步驟，之后，從上述數字數據存儲部向上述運算處理部依次輸入上述數字受光信號。

8.一種測量裝置，其特征在于，

搭載有權利要求1至7中任一項所述的角度檢測裝置，

上述測量裝置包括：

測量單元，其能夠測量到對象物的距離和方向；以及

控制單元，其用于對上述測量單元進行驅動控制。

9.根據權利要求8所述的測量裝置，其特征在于，

上述測量單元具有用于瞄準上述對象物的望遠鏡部，

上述角度檢測裝置用于檢測上述望遠鏡部的視準方向的水平角和鉛垂角。