[發明專利]基于納米陣列電離放電效應的元素檢測裝置及檢測方法在審
| 申請號： | 201510445809.X | 申請日： | 2015-07-27 |
| 公開（公告）號： | CN106066321A | 公開（公告）日： | 2016-11-02 |
| 發明（設計）人： | 黃輝;渠波;趙丹娜;宗楊;呂瑞 | 申請（專利權）人： | 黃輝;渠波;趙丹娜 |
| 主分類號： | G01N21/67 | 分類號： | G01N21/67 |
| 代理公司： | 北京金之橋知識產權代理有限公司 11137 | 代理人： | 朱黎光;李知倫 |
| 地址： | 116024 遼寧省大連市*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 納米 陣列 電離 放電 效應 元素 檢測 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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