[發(fā)明專利]電子元件外觀檢測裝置及其檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510437460.5 | 申請日： | 2015-07-23 |
| 公開（公告）號： | CN106370666A | 公開（公告）日： | 2017-02-01 |
| 發(fā)明（設計）人： | 張仁明;陳正鍇;劉子誠;林軒民;楊景欽 | 申請（專利權）人： | 臺達電子工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/89 | 分類號： | G01N21/89;B07C5/34;B07C5/02 |
| 代理公司： | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權代理有限公司11006 | 代理人： | 王玉雙,李巖 |
| 地址： | 中國臺灣*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電子元件 外觀 檢測 裝置 及其 方法 | ||
【權利要求書】：
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