[發(fā)明專利]太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510434652.0
• 申請日: 2015-07-22
• 公開（公告）號: CN105092213A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設計）人: 孫永雪;陳麗;陳剛義;李鈺;李宏宇
• 申請（專利權(quán)）人: 上海衛(wèi)星裝備研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國中;劉翠

1.一種太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，包括：

-太陽電池，所述太陽電池作為輻照特性測試的光照傳感器；

-測試支架，所述太陽電池固定在所述測試支架上；

-數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，用于對所述太陽電池的輸出進行采集并進行AD轉(zhuǎn)換；

-溫控系統(tǒng)，用于對所述太陽電池進行溫控。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，所述太陽電池共五塊，其中每一塊太陽電池均采用硅光電池，所述硅光電池的背面設有加熱片，所述加熱片與溫控系統(tǒng)相連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，五塊所述硅光電池尺寸均為40×20mm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，所述測試支架放置于均勻輻照面位置處，所述測試支架的中心與太陽模擬器光斑的中心吻合，形成十字形結(jié)構(gòu)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，五塊所述太陽電池分別位于對應太陽模擬器光斑上、下、左、右的1米位置處和中心位置處。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，所述溫控系統(tǒng)對所述太陽電池在真空低溫條件下進行溫度控制。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，所述溫控系統(tǒng)將所述太陽電池溫度控制在室溫。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置，其特征在于，所述真空低溫條件具體為：真空度優(yōu)于1×10-4Pa，環(huán)境溫度低于100K。

9.一種太陽模擬器輻照不均勻度和不穩(wěn)定度測試裝置的測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

-不均勻度測試：所述不均勻度測試按照如下公式計算：

-不穩(wěn)定測試：所述不穩(wěn)定測試按照如下公式計算：