[發明專利]質量分離器、質量選擇檢測器、以及優化質量分離的方法

有效

• 申請號: 201510433622.8
• 申請日: 2015-05-18
• 公開（公告）號: CN105405737B
• 公開（公告）日: 2018-04-27
• 發明（設計）人: M·古德溫;J·M·韋爾斯
• 申請（專利權）人: 弗利爾探測股份有限公司
• 主分類號: H01J49/26
• 分類號: H01J49/26;H01J29/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 王小京

1.一種質量分離器，包括至少一個電極部件，所述電極部件具有在所述分離器內操作地對準的表面，所述表面在一個橫截面上限定經由至少一個上升部而相關聯的至少兩個伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部，其中所述至少兩個伸展部包括2mm到3.5mm之間的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之間的第二伸展部。

2.權利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個橫截面上進一步限定從所述伸展部中的至少一個延伸的另一上升部。

3.權利要求2所述的分離器，其中所述表面在所述一個橫截面上進一步限定由所述上升部中的至少兩個和伸展部組成的基座。

4.權利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個橫截面上限定相對的上升部和伸展部。

5.權利要求4所述的分離器，其中所述相對的上升部和伸展部在所述電極的表面上限定基座。

6.權利要求1所述的分離器，其中所述表面在所述一個橫截面上限定在所述至少一個上升部內的開口，所述開口延伸穿過所述電極部件至所述電極部件的相對的表面。

7.一種質量選擇檢測器，其包括至少第一對相對的電極，所述相對的電極中的每個具有互補的表面，所述表面在一個橫截面上限定經由上升部而相關聯的至少兩個伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部，其中所述至少兩個伸展部包括2mm到3.5mm之間的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之間的第二伸展部。

8.根據權利要求7所述的質量選擇檢測器，還包括第二對相對的電極，所述第一對的每一個與所述第二對相鄰并且正交。

9.根據權利要求8所述的質量選擇檢測器，其中所述檢測器的電極中的至少一個限定在所述電極的相對的表面之間延伸的開口。

10.根據權利要求7所述的質量選擇檢測器，其中所述檢測器的電極中的至少一個限定在所述電極的相對的表面之間延伸的開口。

11.根據權利要求7所述的質量選擇檢測器，其中所述檢測器的兩個相對的電極二者都限定在每個單獨電極的相對的表面之間延伸的互補的開口。

12.根據權利要求7所述的質量選擇檢測器，其中所述第一對電極被配置作為線性離子阱的電極。

13.根據權利要求7所述的質量選擇檢測器，其中所述第一對電極經由相對的端蓋而關于彼此固定。

14.根據權利要求13所述的質量選擇檢測器，其中所述相對的端蓋中的每個限定開口，所述端蓋的開口彼此對準。

15.一種用于優化質量選擇檢測器內的質量分離的方法，所述方法包括：

提供質量分離參數；

在分離器內提供一組電極，所述一組電極具有在所述分離器內操作地對準的表面，所述表面在一個橫截面上限定經由上升部而相關聯的至少兩個伸展部，所述上升部正交地連接到所述伸展部，其中所述至少兩個伸展部包括2mm到3.5mm之間的第一伸展部、以及5.5mm到7.5mm之間的第二伸展部；并且

修正所述上升部和/或伸展部中的一個或兩個以獲得所述質量分離參數。

16.根據權利要求15所述的方法，其中所述質量分離參數包括由所述一組電極在被操作地接合時所提供的電場。

17.根據權利要求15所述的方法，其中所述質量分離器被配置作為線性離子阱，并且所述一組電極是所述阱的一組電極。

18.根據權利要求15所述的方法，還包括在所述檢測器內將所述一組電極提供至固定取向，所述方法還包括，將所述一組電極從所述固定取向上移除、并用另一組電極替換所述一組電極，所述另一組電極與所述一組電極具有不同的上升部和/或伸展部配置。