[發明專利]一種陶瓷插芯同軸度檢測方法有效
| 申請號: | 201510430903.8 | 申請日: | 2015-07-21 |
| 公開(公告)號: | CN105180846B | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發明(設計)人: | 吳敏;張舜德 | 申請(專利權)人: | 寧波職業技術學院 |
| 主分類號: | G01B11/27 | 分類號: | G01B11/27 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 葉志堅 |
| 地址: | 315800 浙江省寧*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陶瓷插芯 檢測系統 內孔 圖像采集模塊 監視器 同軸度檢測 放大透鏡 光源模塊 圓心位置 最小二乘法擬合 測量精度要求 圖像邊緣輪廓 同軸度誤差 轉角 外圓柱面 依次連接 外接圓 誤判率 圓曲線 再利用 構建 拐點 算法 采集 圖像 檢測 | ||
1.一種陶瓷插芯同軸度檢測方法,其特征在于,首先構建檢測系統,檢測系統包括光源模塊、陶瓷插芯、放大透鏡、CCD、圖像采集模塊、監視器,且光源模塊、陶瓷插芯、放大透鏡、CCD、圖像采集模塊、監視器依次連接;然后檢測系統以陶瓷插芯外圓柱面作為基準,使陶瓷插芯旋轉一定角度并通過CCD采集內孔圖像,根據類拐點算法提取內孔圖像邊緣輪廓,再利用最小二乘法擬合內孔圓曲線,求出不同轉角對應的圓心位置,多個圓心位置對應的外接圓直徑就是陶瓷插芯的同軸度誤差。
2.根據權利要求1所述的陶瓷插芯同軸度檢測方法,其特征在于,所述類拐點算法以及最小二乘法的具體步驟如下:
將陶瓷插芯旋轉ai角度,則對應的圓心坐標為Oi(ai,bi),將第j(j=0,1,2,…,m)次采集并計算的內孔輪廓邊緣的像素點集合在數組Pij(xi,yi)(i=0,1,2,…,n)中,取輪廓上任意3點1(x1,y1)、2(x2,y2)、3(x3,y3)利用最小二乘法擬合圓曲線,求出Oi(ai,bi)的半徑與圓心參數;
①將求取的旋轉ai角度對應的m個圓心Oi(ai,bi)用最小外接圓進行包絡,取輪廓邊緣任意兩點間的直線距離,找出輪廓線上最遠兩點O1(xO1,yO1)和O2(xO2,yO2),即輪廓最小包圍盒的長軸,以O1O2為橫軸進行坐標變換;
②找到O1O2長軸的中點,分別從上下兩個方向去掃描,得到輪廓上的點O3和O4,利用點O1、O2、O3、O4進行最小二乘法擬合圓心參數Oj(xj,yj);
③利用m個Oi(xi,yi)用最小二乘法擬合圓參數,其直徑b即為同軸度誤差。
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