[發明專利]一種基于分子印跡比率型熒光探針檢測對硝基苯酚的方法有效
| 申請號: | 201510413198.0 | 申請日: | 2015-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN105092548B | 公開(公告)日: | 2017-09-29 |
| 發明(設計)人: | 蘇榮欣;高召;黃仁亮;齊崴;王夢凡 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所12201 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 300072 天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 分子 印跡 比率 熒光 探針 檢測 硝基 苯酚 方法 | ||
1.一種基于分子印跡比率型熒光探針檢測對硝基苯酚的方法,其特征在于步驟如下:
(1)將包覆量子點的熒光二氧化硅納米粒子超聲分散在無水甲苯中,加入硅氧烷功能化碳點,攪拌均勻后加熱至回流溫度,反應12~24h后,離心分離產物,得到核殼式雙發射熒光二氧化硅納米粒子的固體粉末;
(2)將所得核殼式雙發射熒光二氧化硅納米粒子的固體粉末溶于乙醇中,向其中加入對硝基苯酚后攪拌均勻,然后加入正硅酸乙酯和氨水,室溫下反應3~5h,離心后用乙醇清洗產物,得到核殼式雙發射分子印跡二氧化硅納米粒子的固體粉末;
(3)將所得核殼式雙發射分子印跡二氧化硅納米粒子的固體粉末溶于乙醇中,然后加入對硝基苯酚標準溶液和待測溶液,使用熒光光譜儀測定體系熒光發射光譜,根據雙發射峰的熒光強度之比建立標準曲線,對比標準曲線得到待測溶液中對硝基苯酚的濃度。
2.如權利要求1所述的方法,其特征是在所述步驟(1)中,每毫克包覆量子點的熒光二氧化硅納米粒子需超聲分散在10~20mL無水甲苯中。
3.如權利要求1所述的方法,其特征是在所述步驟(1)中,每毫克包覆量子點的熒光二氧化硅納米粒子需添加1~3μL硅氧烷功能化碳點。
4.如權利要求1所述的方法,其特征是在所述步驟(2)中,每毫克核殼式雙發射熒光二氧化硅納米粒子的固體粉末需溶于10~20mL乙醇中。
5.如權利要求1所述的方法,其特征是在所述步驟(2)中,每毫克核殼式雙發射熒光二氧化硅納米粒子需添加0.02~0.1mg對硝基苯酚、3~8μL正硅酸乙酯和3~8μL氨水。
6.如權利要求1所述的方法,其特征是在所述步驟(3)中,每毫克核殼式雙發射分子印跡二氧化硅納米粒子的固體粉末需溶于10~20mL乙醇中。
7.如權利要求1所述的方法,其特征是所述熒光強度對應激發波長為350nm。
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