[發明專利]環境試驗裝置

在審

• 申請號: 201510412103.3
• 申請日: 2015-07-14
• 公開（公告）號: CN104977245A
• 公開（公告）日: 2015-10-14
• 發明（設計）人: 洪軍;高文全;殷秀玲;王一寧
• 申請（專利權）人: 北京瑞爾騰普科技有限公司
• 主分類號: G01N17/00
• 分類號: G01N17/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 畢強

技術領域

本發明涉及元器件測量的技術領域，尤其是涉及環境試驗裝置。

背景技術

元器件及其組合電路廣泛應用在軍工和民品的各行各業，在元器件生產過程中會出現不合格的產品，這些不合格的產品存在著一定的缺陷：工藝缺陷、元器件缺陷和設計缺陷，等等。工藝缺陷主要是工藝不當造成的，常見的如虛焊、松脫、斷裂、開路、短路等；元器件缺陷是元器件本身質量低劣或元器件環境試驗篩選不徹底造成的；設計缺陷主要是設計不合理造成的。

企業在研制和技術開發階段，需要對元器件進行環境試驗，以便快速、準確的發現和排除不良零件和防止出現早期失效；環境試驗是指元器件在環境應力下所進行的一系列試驗，其目的是在產品出產前，有意把環境應力施加到產品上，使產品潛在缺陷加速發展成為早期故障，并加以排除；環境應力篩選是剔除產品缺陷和提高產品使用可靠性的一種有效工藝手段。

進行環境應力篩選所需的試驗設備通常稱為環境試驗箱，環境試驗箱包括試驗空間、制冷單元和循環風機，循環風機能夠將制冷單元產生的冷空氣吹至試驗空間內，同時帶出試驗空間內的熱空氣，從而改變試驗空間內的溫度。

通過上述分析可知，現有技術中的環境試驗箱是對空間進行溫度控制的，由于空間體積較大，因此，需要較長的時間才能達到試驗溫度。

發明內容

本發明的目的在于提供環境試驗裝置，以解決現有技術中存在的升降溫速率較慢，一次試驗周期耗時較長的技術問題。

本發明提供的一種環境試驗裝置，包括：箱體、試驗臺和制冷系統，所述試驗臺和所述制冷系統均設置在所述箱體的內部；所述制冷系統用于降低所述試驗臺的表面溫度，所述試驗臺用于放置元器件。

進一步，所述試驗臺包括底座和上蓋，所述上蓋設置在所述底座上，且與所述底座形成用于容納制冷劑的容納空間；

所述容納空間與所述制冷系統連接，且所述制冷劑能夠在所述容納空間和所述制冷系統之間循環；

所述試驗臺與所述箱體的內側壁水平連接。

進一步，所述底座上設有制冷劑流道，所述制冷劑流道的兩端均與所述制冷系統連接，所述制冷劑能夠在所述制冷劑流道內流動。進一步，所述上蓋和所述底座均由紫銅材料制成。

進一步，所述上蓋通過真空釬焊的方式焊接在所述底座上。

進一步，所述試驗臺還包括用于固定待檢測元器件的固定板，所述固定板設置在所述上蓋上。

進一步，所述制冷系統包括第一壓縮機、第二壓縮機、第一膨脹閥、第二膨脹閥、冷凝器和換熱器；

所述制冷劑流道的兩端均通過連接管與所述第一壓縮機和所述第一膨脹閥的一端連接，所述第一壓縮機和所述第一膨脹閥的另一端分別與所述換熱器連接，所述制冷劑流道、所述第一壓縮機、所述第一膨脹閥和所述換熱器形成循環的回路；

所述第二壓縮機和所述第二膨脹閥的一端分別與所述換熱器連接，所述第二壓縮機和所述第二膨脹閥的另一端分別與所述冷凝器連接，所述冷凝器、所述第二膨脹閥、所述換熱器和所述第二壓縮機形成循環的回路。

進一步，還包括用于測量溫度的測溫系統，所述測溫系統設置在所述箱體的內部。

進一步，還包括保溫層，所述保溫層設置在所述箱體的內側壁上，且位于所述上蓋的上方。

進一步，所述箱體的側壁上設置有多個穿線孔，所述穿線孔位于所述上蓋的上方。

與現有技術相比，本發明具有的有益效果為：

本發明提供的環境試驗裝置，包括箱體、試驗臺和制冷系統，試驗臺和制冷系統均設置在箱體的內部，制冷系統能夠降低試驗臺表面的溫度，元器件放置在試驗臺的表面進行環境試驗；通過上述結構，制冷系統只需降低試驗臺表面的溫度，相比現有技術需要降低空間溫度而言，能夠大大提高升降溫的速率，從而節省一次試驗周期的時間。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明具體實施方式或現有技術中的技術方案，下面將對具體實施方式或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的環境試驗裝置的結構示意圖；

圖2為圖1所示的環境試驗裝置的主視圖；

圖3為圖1所示的環境試驗裝置的試驗臺的示意圖；

圖4為圖3所示的試驗臺的上蓋的示意圖；

圖5為圖3所示的試驗臺的底座和制冷劑流道的示意圖；

圖6為圖1所示的環境試驗裝置的制冷系統的原理圖。

附圖標記：