[發明專利]用于非接觸式角度測量的設備和方法有效
| 申請號： | 201510404795.7 | 申請日： | 2015-07-10 |
| 公開（公告）號： | CN105258633B | 公開（公告）日： | 2019-03-08 |
| 發明（設計）人： | 大衛·繆瑟 | 申請（專利權）人： | TDK-Micronas有限公司 |
| 主分類號： | G01B7/30 | 分類號： | G01B7/30 |
| 代理公司： | 北京市磐華律師事務所 11336 | 代理人： | 董巍;謝栒 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 霍爾傳感器 永磁體 非接觸式測量 非接觸式 角度測量 圓形路徑 輔助的 整除 總計 | ||
1.用于非接觸式測量旋轉角度(15)的設備(10)，包括：
具有多個極的永磁體(60)，其中所述極的數量總計為四個或更多，并且不能被三整除；
至少三個第一橫向霍爾傳感器(40a-c)，所述至少三個第一橫向霍爾傳感器(40a-c)以相等角度設置在所述永磁體(60)下方的平面(30)中的圓形路徑(50)中；以及
至少兩個第二橫向霍爾傳感器(45a-c)，其中所述至少兩個第二橫向霍爾傳感器(45a-c)中的兩個分別與所述第一橫向霍爾傳感器(40a-c)中的一個相對地設置在所述圓形路徑(50)中。
2.根據權利要求1所述的設備(10)，進一步包括設置在所述圓形路徑(50)內的圓心(55)中的第三橫向霍爾傳感器(47)。
3.根據權利要求1或2所述的設備(10)，其中所述永磁體(60)可旋轉地設置在所述圓形路徑(50)的所述平面(30)上方。
4.根據權利要求2所述的設備，其中所述永磁體(60)可以圍繞大致垂直于所述平面(30)設置的旋轉軸(65)旋轉，并且所述旋轉軸(65)大致延伸通過所述圓心(55)。
5.根據權利要求1、2或4中任一項所述的設備，其中所述永磁體(60)具有兩個極。
6.用于非接觸式測量旋轉角度(15)的方法，包括以下步驟：
(510)生成旋轉角度(15)下方的磁場(B)，所述旋轉角度(15)要用具有偶數數量的極的永磁體(60)測量，其中所述極的所述數量總計為四個或更多，并且不能被三整除；
(520)測量大致設置在圓形路徑(50)中并被所述磁場(B)所覆蓋的至少三個第一橫向霍爾傳感器(40a-c)中的信號值(VS1、VS2和VS3)；
(530)通過設備根據以下等式計算旋轉角度
其中并且
VS1,2,3＝所述至少三個第一橫向霍爾傳感器中的電壓。
7.根據權利要求6所述的方法，其中將所述計算(530)執行數次，并且針對所述旋轉角度確定平均值。
8.根據權利要求6或7所述的方法，進一步包括：
通過考慮干擾因素而對信號值(VS1、VS2、VS3)進行校正(525)，其中所述干擾因素是背景場和場梯度。
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