[發(fā)明專利]測試器件和電路布置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510400320.0 | 申請日: | 2015-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN105242159B | 公開(公告)日: | 2018-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | C.馬奎斯馬丁斯;A.泰爾;S.蒂勒 | 申請(專利權(quán))人: | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/01 | 分類號: | G01R31/01 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;胡莉莉 |
| 地址: | 德國瑙伊比*** | 國省代碼: | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 器件 電路 布置 | ||
測試器件和電路布置。根據(jù)各種實施例的測試器件可包括:多個第一端子,被配置成連接到多個被測試器件,其中,多個第一端子中的每個第一端子可被配置成連接到多個被測試器件中的相應(yīng)的被測試器件;信號接口,被配置成連接到測試器;以及電路,被配置成通過多個第一端子中的相應(yīng)的第一端子與多個被測試器件中的每個被測試器件交換相同的第一信號,并通過信號接口與測試器交換至少一個接口信號。
技術(shù)領(lǐng)域
各種實施例涉及測試器件和電路布置。
背景技術(shù)
可并行地測試的被測試器件(DUT)的數(shù)目可取決于測試設(shè)備(例如測試器)的硬件。可能期望增加可并行地測試的DUT的數(shù)目,其例如可減少測試時間和/或測試成本。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)各種實施例的測試器件可包括:多個第一端子,被配置成連接到多個被測試器件(DUT),其中多個第一端子中的每個第一端子可被配置成連接到多個DUT中的相應(yīng)的DUT;信號接口,被配置成連接到測試器;以及電路,被配置成通過多個第一端子中的相應(yīng)的第一端子與多個DUT中的每個DUT交換相同的第一信號,并通過信號接口與測試器交換至少一個接口信號。
附圖說明
在圖中,遍及不同的視圖,相似的參考字符一般地指的是相同的部分。附圖不一定按比例,改為一般地將重點放在圖示出本發(fā)明的原理上。在以下描述中,參考以下各圖來描述本發(fā)明的各種實施例,其中:
圖1示出了包括其中可執(zhí)行并行測試的多個DUT和測試器的框圖。
圖2示出了根據(jù)各種實施例的測試器件的框圖。
圖3示出了根據(jù)各種實施例的電路布置的框圖。
圖4示出了根據(jù)各種實施例的包括測試器的測試器件的詳細框圖。
圖5A至圖5D示出了根據(jù)各種實施例的用于測試多個DUT中的每個DUT的各種計時的電路布置和各種曲線。
圖6A至圖6C示出了根據(jù)各種實施例的用于測試多個DUT中的每個DUT的各種計時的電路布置和各種曲線。
圖7示出了根據(jù)各種實施例的電路布置的框圖。
具體實施方式
以下詳細描述參考附圖,附圖以圖示的方式示出了其中可實施本發(fā)明的實施例和特定細節(jié)。足夠詳細地描述了這些實施例以使得本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵤┍景l(fā)明。在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下,可利用其它實施例,并且可進行結(jié)構(gòu)、邏輯以及電學改變。各種實施例不一定是相互排斥的,因為可以將某些實施例與一個或多個其它實施例組合以形成新的實施例。針對結(jié)構(gòu)或器件描述了各種實施例,并且針對方法描述了各種實施例。可理解的是結(jié)合結(jié)構(gòu)或器件所述的一個或多個(例如所有)實施例可同樣地適用于方法,并且反之亦然。
詞語“示例性”在本文中用來意指“充當示例、實例或圖示”。在本文中描述為“示例性”的任何實施例或設(shè)計不一定要被解釋為相比于其它實施例或設(shè)計而言是優(yōu)選或有利的。
在這里用來描述被連接到至少一個其它暗指特征的特征的術(shù)語“耦合”和/或“電耦合”和/或“連接”和/或“電連接”并不意圖意指必須將該特征和至少一個其它暗指特征直接地耦合或連接在一起;可在該特征與至少一個其它暗指特征之間提供中間特征。
可參考正在描述的(多個)圖的取向來使用方向術(shù)語,例如諸如“上”、“下”、“頂部”、“底部”、“左側(cè)”、“右側(cè)”等。因為(多個)圖的部件可以以多個不同的取向定位,所以方向術(shù)語是用于說明的目的且絕不是限制性的。應(yīng)理解的是在不脫離本發(fā)明的范圍的情況下,可進行結(jié)構(gòu)或邏輯改變。
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