[發(fā)明專利]振蕩器頻率校驗裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510396877.1 | 申請日: | 2015-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN104993820A | 公開(公告)日: | 2015-10-21 |
| 發(fā)明(設計)人: | 吳錦桐 | 申請(專利權)人: | 廣東美的暖通設備有限公司;美的集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H03L7/099 | 分類號: | H03L7/099 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產(chǎn)權代理有限公司 11283 | 代理人: | 曹寒梅;肖冰濱 |
| 地址: | 528311 廣東省佛山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 振蕩器 頻率 校驗 裝置 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及電子電路領域,具體地,涉及一種振蕩器頻率校驗裝置和方法。
背景技術
目前,幾乎都是使用振蕩器給MCU提供運行頻率。UL認證標準中要求,MCU要在正常運行頻率的半頻~倍頻范圍內正常工作,所以要對MCU使用的振蕩器頻率做校驗,以保證MCU正常安全的運行。
目前,很少會對MCU所使用的振蕩器進行頻率校驗,而缺少運行頻率的校驗,會在MCU使用錯誤的振蕩器或者振蕩器損壞的情況下,造成MCU運行錯誤、使用MCU的機器的負載不正常開關等問題,而且也會存在一定的安全隱患。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種振蕩器頻率校驗裝置和方法,該校驗裝置和方法能夠對振蕩器的頻率進行校驗,從而能夠防止微控制單元(MCU)及使用MCU的機器出現(xiàn)不可控制的現(xiàn)象,并能夠提高MCU及使用MCU的機器的運行安全性。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種振蕩器頻率校驗裝置,該校驗裝置包括:過零點檢測模塊,用于檢測參考振蕩器輸出的交流信號的過零點;計時器,該計時器由被校驗振蕩器驅動并用于對所述參考振蕩器輸出的交流信號的兩個相鄰過零點之間的時間間隔進行計時;以及判斷模塊,用于判斷所述計時器所計時的時間間隔是否位于所述參考振蕩器的理論相鄰過零點時間間隔的誤差范圍內,若是,則判定被校驗振蕩器的頻率正常,若否,則判定被校驗振蕩器的頻率異常。
本發(fā)明還提供一種振蕩器頻率校驗方法,該校驗方法包括:檢測參考振蕩器輸出的交流信號的過零點;通過由被校驗振蕩器驅動的計時器,對所述參考振蕩器輸出的交流信號的兩個相鄰過零點之間的時間間隔進行計時;以及判斷所述計時器所計時的時間間隔是否位于所述參考振蕩器的理論相鄰過零點時間間隔的誤差范圍內,若是,則判定被校驗振蕩器的頻率正常,若否,則判定被校驗振蕩器的頻率異常。
通過上述技術方案,由于能夠檢測參考振蕩器輸出的交流信號的過零點、通過由被校驗振蕩器驅動的計時器對參考振蕩器輸出的交流信號的兩個相鄰過零點之間的時間間隔進行計時并判斷所述計時器所計時的時間間隔是否位于參考振蕩器的理論相鄰過零點時間間隔的誤差范圍內,從而能夠簡便快捷地判定被校驗振蕩器的頻率是否異常,這樣使用者就能夠及時采取措施,使得能夠防止使用被校驗振蕩器的MCU及使用MCU的機器出現(xiàn)不可控制的現(xiàn)象,防止出現(xiàn)機器負載的不正常開關問題,并能夠提高MCU及使用MCU的機器的運行安全性。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。
附圖說明
附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解,并且構成說明書的一部分,與下面的具體實施方式一起用于解釋本發(fā)明,但并不構成對本發(fā)明的限制。在附圖中:
圖1是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的振蕩器頻率校驗裝置的示意框圖;
圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的振蕩器頻率校驗方法的流程圖;以及
圖3是根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的振蕩器頻率校驗方法的又一流程圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本發(fā)明的具體實施方式進行詳細說明。應當理解的是,此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本發(fā)明,并不用于限制本發(fā)明。
如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明一種實施方式的振蕩器頻率校驗裝置包括過零點檢測模塊10、計時器20、判斷模塊30以及參考振蕩器40。過零點檢測模塊10用于檢測參考振蕩器40輸出的交流信號的過零點;計時器20由被校驗振蕩器50驅動并用于對所述參考振蕩器40輸出的交流信號的兩個相鄰過零點之間的時間間隔進行計時;以及判斷模塊30,用于判斷計時器20所計時的時間間隔是否位于參考振蕩器40的理論相鄰過零點時間間隔的誤差范圍內,若是,則判定被校驗振蕩器50的頻率正常,若否,則判定被校驗振蕩器50的頻率異常。
優(yōu)選地,所述過零點檢測模塊10可以為過零點檢測電路。本申請并不限定過零點檢測電路的具體電路形式,也即能夠實現(xiàn)過零點檢測的任何過零點檢測電路都是可行的。
優(yōu)選地,所述參考振蕩器40可以為被校驗振蕩器50之外的頻率固定的振蕩器或者使用被校驗振蕩器50的微控制單元(MCU)的內部振蕩器(在該MCU具有內部振蕩器的情況下)。
另外,參考振蕩器40的理論相鄰過零點時間間隔可以通過參考振蕩器40的頻率獲得,也即,假設參考振蕩器40的頻率為f,則理論相鄰過零點時間間隔ΔT=1/f。
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