[發明專利]一種檢測范圍自適應的模擬量檢測電路及檢測方法

有效

• 申請號: 201510383310.0
• 申請日: 2015-07-02
• 公開（公告）號: CN105159182B
• 公開（公告）日: 2018-08-14
• 發明（設計）人: 周瑩;夏奎
• 申請（專利權）人: 成都樂創自動化技術股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 成都君合集專利代理事務所(普通合伙) 51228
• 代理人: 代平

1.一種檢測范圍自適應的模擬量檢測方法，其特征在于：

通過檢測范圍自適應的模擬量檢測電路可實現檢測范圍自適應的模擬量檢測；

所述模擬量檢測電路包括依次連接的前端處理電路、A/D轉換芯片及MCU處理器；

所述前端處理電路，接收輸入模擬量，完成濾波操作，濾除不需要的雜波信號，并將濾除雜波信號的模擬量信號輸入到A/D轉換芯片內；

所述A/D轉換芯片，接收來至前端處理電路的模擬量信號，并完成相應的AD轉換，同時受MCU處理器控制；

所述MCU處理器，發送控制信號至A/D轉換芯片內，根據實際模擬量實時調節改變A/D轉換芯片的檢測范圍；

所述A/D轉換芯片為單通道A/D轉換芯片或多通道A/D轉換芯片，所述多通道A/D轉換芯片的通道數為N，且N為自然數；

所述MCU處理器為單片機或DSP器件或FPGA器件或CPLD器件；

所述模擬量檢測方法，包括以下步驟：

步驟A、設定A/D轉換芯片的檢測范圍；

步驟B、對輸入到A/D轉換芯片內的模擬量進行一次初檢測；

步驟C、通過MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測值，確定一個適合該初檢測值的最小檢測范圍；

步驟D，經步驟C后，再進行一次模擬量檢測，輸出轉換結果；

在所述步驟B中，對單通道A/D轉換芯片內的模擬量進行一次初檢測時，不輸出該次的轉換結果；對多通道A/D轉換芯片內的模擬量進行一次初檢測包括僅對設置為最大檢測范圍的通道的模擬量進行一次初檢測和對所有通道的模擬量進行一次初檢測；

所述步驟C包括以下具體方法：

步驟C.1、針對單通道A/D轉換芯片，通過MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測值，確定一個適合該初檢測值的最小檢測范圍并再次對單通道A/D轉換芯片進行初始化設置；

步驟C.2、針對多通道A/D轉換芯片，包括：

步驟C.2.1、當僅對設置為最大檢測范圍的通道的模擬量進行一次初檢測時，通過MCU處理器判斷設置為最大檢測范圍的通道初檢測值，確定一個適合設置為最大檢測范圍的通道初檢測值的最小檢測范圍及最小檢測范圍所對應的所述設置為最大檢測范圍的通道；

步驟C.2.2、當對所有通道的模擬量進行一次初檢測時，通過MCU處理器判斷N個通道初檢測值后，確定一個適合N個通道初檢測值的最小檢測范圍及最小檢測范圍所對應的通道N。

2.根據權利要求1所述的一種檢測范圍自適應的模擬量檢測方法，其特征在于：所述A/D轉換芯片為單通道A/D轉換芯片或多通道A/D轉換芯片，所述多通道A/D轉換芯片的通道數為N，且N為自然數。

3.根據權利要求2所述的一種檢測范圍自適應的模擬量檢測方法，其特征在于：所述步驟A中，針對單通道A/D轉換芯片，將檢測范圍設定為最大；針對多通道A/D轉換芯片，將N個通道設置為不同的檢測范圍，且將其中一個通道設置為最大檢測范圍。

4.根據權利要求3所述的一種檢測范圍自適應的模擬量檢測方法，其特征在于：在所述將其中一個通道設置為最大檢測范圍的基礎上進一步將設置為最大檢測范圍的通道的檢測范圍劃分為N個小區間檢測范圍。

5.根據權利要求1所述的一種檢測范圍自適應的模擬量檢測方法，其特征在于：所述步驟D中，針對多通道A/D轉換芯片，包括對設置為最大檢測范圍的通道再進行一次模擬量檢測或/和對通道N再進行一次模擬量檢測。