[發明專利]基于TRL相控陣探頭的缺陷3D可視化超聲檢測流程

在審

• 申請號: 201510383301.1
• 申請日: 2015-06-28
• 公開（公告）號: CN105044211A
• 公開（公告）日: 2015-11-11
• 發明（設計）人: 王婧云;陳軍;金士杰;張侃;羅忠兵;林莉
• 申請（專利權）人: 大連理工大學
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06
• 代理公司: 大連星海專利事務所 21208
• 代理人: 花向陽

1.一種基于TRL相控陣探頭的缺陷3D可視化超聲檢測流程，其特征是：采用由DynarayLite超聲相控陣檢測儀、UltraVision3.2R9相控陣操作系統、TRL面陣探頭、掃查器和校準試塊構成的檢測系統，通過數據采集、體積建模、三維可視后處理實現結構缺陷的3D可視，所述方法的測量步驟如下：

(1)了解被檢測件的材料牌號、焊縫型式、焊接工藝、尺寸以及范圍，對被檢測件表面做出清晰的焊縫標識、焊接位置標識線及焊縫位置參考點，對被檢測件進行表面處理，使探頭在完全接觸表面上自由移動，并根據被檢測材料選取合適的耦合劑；

(2)在UltraVision3.2R9相控陣操作系統內建立試樣尺寸模型，或根據CAD建立試樣尺寸模型導入UltraVision3.2R9相控陣操作系統；

(3)根據被檢區域的縱波聲速、衰減系數的測試結果，編輯模型中的材料屬性，選擇投影聚焦方式及合適的檢測角度；

(4)連接TRL探頭與DynarayLite超聲相控陣檢測儀，搭建相控陣檢測系統，根據缺陷特征確定超聲相控陣系統的聚焦法則、超聲設置和機械設置，在UltraVision3.2R9相控陣操作系統的檢測界面添加進行動態體積校正過的扇掃圖、B掃圖、C掃圖和D掃圖，并在分析界面添加靜態體積校正過的扇掃圖、B掃圖、C掃圖和D掃圖，最后對相控陣檢測系統進行楔塊延遲和縱波聲速校準；

(5)校準掃查器的步進速度，組裝TRL探頭與掃查器，并設定掃查軌跡、分辨率和掃查步進速度，啟動掃查器進行掃查，聚焦采用投影聚焦模式，記錄掃查結果；

(6)處理掃查數據，進行3D可視化后處理，首先利用CAD軟件進行實體建模，隨后將模型導入UltraVision3.2R9軟件，在軟件平臺中調整探頭與模型的相對位置以找到合理的探頭掃查位置，最后在UltraVision3.2R9軟件平臺上進行角度合成，得到初步的3D可視化視圖，并對缺陷深度進行定量分析。