[發(fā)明專(zhuān)利]一種小型軋輥表面探傷裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510376616.3 | 申請(qǐng)日: | 2015-07-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105044048B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何澤鵬;黃濤;熊勇;黃宇麗;陳劍;張波 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 武漢科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/63 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/63;G01N21/88 |
| 代理公司: | 溫州市品創(chuàng)專(zhuān)利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙)33247 | 代理人: | 余麗霞 |
| 地址: | 430081 湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 小型 軋輥 表面 探傷 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于軋機(jī)軋輥檢測(cè)領(lǐng)域,具體涉及一種小型軋輥表面探傷裝置及方法。
背景技術(shù)
軋輥是軋機(jī)的關(guān)鍵部件,其應(yīng)用狀況的好壞直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量與現(xiàn)場(chǎng)生產(chǎn)的安全,因此,我們需要檢測(cè)軋輥是否存在機(jī)械加工缺陷,保證軋輥達(dá)到使用的精確要求,避免因軋輥不合格而影響產(chǎn)品質(zhì)量。
目前,大多數(shù)企業(yè)均使用自動(dòng)渦流檢測(cè)設(shè)備對(duì)軋輥表面缺陷進(jìn)行檢測(cè),根據(jù)渦流探傷原理,渦流會(huì)受到試件化學(xué)成分、硬度熱處理情況以及裂紋方向等諸多因素的干擾與影響,因此檢測(cè)時(shí)經(jīng)常出現(xiàn)虛假的傷信號(hào),現(xiàn)場(chǎng)為了安全起見(jiàn)又不得不進(jìn)行磨輥處理,不僅浪費(fèi)了人工和能源,而且造成軋輥輥耗的增加。同時(shí),當(dāng)裂紋很小時(shí)又難以準(zhǔn)確檢查出來(lái),為了提高軋輥缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確率,有的采取增加軋輥表面波檢測(cè)的辦法加以彌補(bǔ)。但是由于表面波檢測(cè)亦存在著自身的缺陷,當(dāng)軋輥的晶粒組織粗大時(shí),會(huì)使表面波信號(hào)的衰減也變大,因此使檢測(cè)效果不理想。而且,目前的軋輥檢測(cè)裝置都是一些綜合性很強(qiáng)的檢測(cè)設(shè)備,容易受到多種因素的影響,工藝參數(shù)的細(xì)微變化也可能使得檢測(cè)設(shè)備的性能大達(dá)折扣,同時(shí)也沒(méi)有專(zhuān)門(mén)針對(duì)小型軋輥的表面探傷檢測(cè)裝置。
因此,有必要設(shè)計(jì)一種更好的軋輥表面探傷裝置,以克服上述問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種小型軋輥表面探傷裝置及方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案一種小型軋輥表面探傷裝置,包括:遮光基座;遮光蓋,通過(guò)轉(zhuǎn)軸樞接于所述遮光基座,所述遮光蓋上貫穿開(kāi)設(shè)有評(píng)測(cè)窗口;半透明投射板,通過(guò)轉(zhuǎn)軸樞接于所述遮光蓋,與所述評(píng)測(cè)窗口嵌接配合;支撐架,設(shè)置于所述遮光基座內(nèi),所述支撐架兩端分別設(shè)有一個(gè)支撐座用于支撐待測(cè)小型軋輥,兩個(gè)所述支撐座相對(duì)設(shè)置且位于所述評(píng)測(cè)窗口下方,每一個(gè)所述支撐座頂端活動(dòng)設(shè)置有一個(gè)固定環(huán)用于固定所述待測(cè)小型軋輥,所述固定環(huán)連接一個(gè)速度控制器,所述速度控制器連接電源;一字線(xiàn)激光器,固定設(shè)置于所述遮光蓋上,與所述評(píng)測(cè)窗口相鄰,所述一字線(xiàn)激光器的照射方向指向所述固定環(huán)的軸心線(xiàn)。
上述技術(shù)特征中,所述支撐架通過(guò)兩個(gè)蝸桿升降機(jī)活動(dòng)設(shè)置于所述遮光基座內(nèi)。
上述技術(shù)特征中,兩個(gè)所述蝸桿升降機(jī)的搖桿同軸聯(lián)動(dòng)并延伸至所述遮光基座的外部。
上述技術(shù)特征中,所述搖桿的末端設(shè)有一個(gè)操作部。
上述技術(shù)特征中,一個(gè)暗箱通過(guò)轉(zhuǎn)軸樞接于所述遮光蓋,并與所述評(píng)測(cè)窗口嵌接配合,所述暗箱與所述半透明投射板分別樞接于所述評(píng)測(cè)窗口的相對(duì)兩側(cè)邊,所述暗箱內(nèi)設(shè)置有感光膠片。
一種小型軋輥表面探傷的方法,包含以下步驟:
步驟一,將待測(cè)小型軋輥置于任一所述的小型軋輥表面探傷裝置內(nèi),用所述固定環(huán)將所述待測(cè)小型軋輥固定于所述支撐架上,蓋上所述遮光蓋;
步驟二,開(kāi)啟一字線(xiàn)激光器,搖動(dòng)所述搖桿,使激光經(jīng)待測(cè)小型軋輥反射后的反射光線(xiàn)投射在所述評(píng)測(cè)窗口內(nèi)的半透明投射板上;
步驟三,開(kāi)啟所述速度控制器,使所述固定環(huán)帶動(dòng)所述待測(cè)小型軋輥勻速緩慢轉(zhuǎn)動(dòng),然后觀察所述半透明投射板上的反射光圖像的變化。
上述技術(shù)特征中,當(dāng)需要對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行歸檔對(duì)比時(shí),將所述半透明投射板翻轉(zhuǎn)到所述測(cè)評(píng)窗口的一側(cè),然后將所述暗箱嵌接入所述評(píng)測(cè)窗口內(nèi),撕下所述感光膠片的遮光紙,使所述感光膠片記錄下所述待測(cè)小型軋輥轉(zhuǎn)動(dòng)一周的質(zhì)量情況。
本發(fā)明的技術(shù)效果和優(yōu)點(diǎn):本發(fā)明利用一字線(xiàn)激光器照射待測(cè)小型軋輥,然后激光束經(jīng)過(guò)待測(cè)小型軋輥面的反射后投射到評(píng)測(cè)窗口范圍內(nèi),在半透明投射板上形成反映待測(cè)小型軋輥表面平整度的圖像,可以直觀的通過(guò)圖像的平滑程度、光斑散布情況判斷軋輥表面質(zhì)量,同時(shí)光束的反射起到了放大作用,使檢測(cè)更加精細(xì)。
支撐架可以通過(guò)兩個(gè)蝸桿升降機(jī)調(diào)節(jié)高度,使所述小型軋輥表面探傷裝置能夠適應(yīng)不同的直徑的軋輥,保證反射光線(xiàn)投射到評(píng)測(cè)窗口內(nèi),使用范圍廣。
通過(guò)感光膠片可以獲取所述待測(cè)小型軋輥表面質(zhì)量的激光反射圖案,將其與標(biāo)準(zhǔn)圖案對(duì)比,可以更加精準(zhǔn)的判斷待測(cè)小型軋輥的表面質(zhì)量,斷定待測(cè)小型軋輥的質(zhì)量是否合格,是對(duì)比直觀,提高了判斷的效率。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明工作狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式的附圖標(biāo)號(hào)說(shuō)明:
1-遮光基座;2-遮光蓋;3-支撐架;4-速度控制器;
5-支撐座;6-固定環(huán);7-一字線(xiàn)激光器;
8-評(píng)測(cè)窗口;9-半透明投射板;10-蝸桿升降機(jī);
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





