[發明專利]像素電路及其驅動方法

有效

• 申請號: 201510369627.9
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN105321460B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 野中義弘;松枝洋二郎;高取憲一
• 申請（專利權）人: 天馬微電子股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3258
• 分類號: G09G3/3258
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華;何月華

本發明涉及像素電路及其驅動方法且用于防止圖像殘留。像素電路包括：發光元件；驅動晶體管，其將與所施加的電壓相應的電流供給到發光元件；電容器部，其保持包含驅動晶體管的閾值電壓和數據電壓的電壓；以及開關部，其使包含閾值電壓和數據電壓的電壓保持于電容器部并將電壓施加到驅動晶體管。另外，開關部具有在使包含閾值電壓和數據電壓的電壓保持于電容器部之前將恒定電壓施加到驅動晶體管的功能。

相關申請的交叉引用

本申請基于并要求2014年6月27日提交的日本專利申請No.2014-133382和2015年2月20日提交的日本專利申請No.2015-031373的優先權，上述日本專利申請的全文并入在此供參考。

技術領域

本發明涉及在有源矩陣型有機發光顯示器(以下，稱作“AMOLED”)等中使用的像素電路及驅動方法。有機發光二極管也稱作有機EL元件(以下，稱作“OLED”)。

背景技術

由于沒有AMOLED的標準的像素電路，因此制造AMOLED的各公司使用它們獨自的像素電路。一般的像素電路設有OLED、用于驅動OLED的驅動晶體管、用于開關的多個晶體管、電容器等。

在像素電路中，為了補償向OLED供給電流的驅動晶體管的閾值電壓的變化和波動，已知對閾值電壓進行檢測的一些技術(例如，參照日本未審查的專利公開2014-029533(專利文獻1)和日本未審查的專利公開2013-210407(專利文獻2))。用于檢測閾值電壓的技術主要是下述的兩種技術。

(1)如下的方法：連接柵極端子和漏極端子；例如將源極端子的電位固定；以及通過使源極和漏極之間流通電流來改變柵極端子的電位，從而使柵極和源極之間的電壓自動地接近閾值電壓(二極管連接型)。(2)如下的方法：將柵極端子的電位固定；通過使漏極和源極之間流通電流來改變源極端子的電位，從而使柵極和源極之間的電壓自動接近閾值電壓(源極跟隨器型)。源極跟隨器型的優點是：即使當柵極和源極間電壓為0V時也能夠檢測流動有電流的凹陷型晶體管的閾值電壓。

但是，具有閾值電壓檢測功能的已有的像素電路具有如下的問題。

(1)當示出黑顯示一段時間之后示出白顯示時，由于驅動晶體管的滯后特性，畫面沒有立即變白，而需要幾幀的時間才轉變為全白顯示。這通常稱作“圖像殘留”(例如，參照日本未審查的專利公開2012-128386(專利文獻3))。換言之，當電流長時間沒有流到驅動晶體管時，驅動晶體管的滯后特性被初始化，因此閾值電壓向著使電流增大的方向偏移。在這種狀態下，即使對驅動晶體管施加補償閾值電壓的白顯示用的柵極-源極電壓，由于滯后特性也導致電流瞬時減小。因此，不能得到本來的白顯示的亮度。

(2)由于非發光時段的漏發光，發生對比度下降。其原因是：電流如下述情況那樣在非發光時段中流入到OLED中，因此發生無效的漏發光。(a)在閾值電壓檢測時段中，用于驅動晶體管的電流流經OLED。(b)在電容器復位時段中，電容器的充電電流流經OLED。

接下來，對相關技術進行說明。圖24A至圖27B中的附圖標記僅為了說明而直接采用自公報，因此這些附圖標記與本發明的其他附圖中的附圖標記無關。(相關技術1)

圖24A和圖24B中所示的相關技術1示于專利文獻1的圖1和圖2中。

相關技術1的像素電路200包括OLED 10、驅動晶體管14、開關晶體管16、18、電容器12等，并公開了下面的主題和特征。像素電路200為源極跟隨器型，其中，開關晶體管18連接到OLED 10的陽極。像素電路200不檢測未流動電流的閾值電壓。像素電路200使規定的偏置電流經由偏置線IBIAS流入驅動晶體管14，以調整源極端子B11的電位。當在編程周期X11和X12中電源電壓VDD不減小時，源極端子B11的電位被施加于OLED 10。因此，發生漏發光，并且不能使流入驅動晶體管14的電流達到規定的偏置電流。

(相關技術2)