[發明專利]一種用于電磁兼容性試驗的表面電流注入測量法

在審

• 申請號: 201510366468.7
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN105044494A
• 公開（公告）日: 2015-11-11
• 發明（設計）人: 方愔
• 申請（專利權）人: 中國航空無線電電子研究所
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海和躍知識產權代理事務所(普通合伙) 31239
• 代理人: 楊慧

技術領域

電磁兼容性試驗，涉及高電平輻照試驗的替代方法。

背景技術

EMC高電平輻射敏感度試驗中存在試驗應力產生代價大甚至不現實、受試件操作受限、試驗結果重復性較差、試驗費效比低下等難以克服的技術、經濟、安全層面的問題，電磁兼容業內迫切需要尋求一種較簡易安全操作性強的變通等價替代法，間接實施試驗。

發明內容

為了尋找一種替代EMC高電平輻射敏感度試驗方法，本發明提供了一種用于電磁兼容性試驗的表面電流注入測量法，通過實際測量得到替代試驗需注入的表面電流量值，從而完成替代試驗。

本發明的發明目的通過以下技術方案實現：

一種用于電磁兼容性試驗的表面電流注入測量法，包含以下步驟：

一、配置合適的受試件接地方式和接地點位置；

二、用表面電流探頭測量受試件的關注區域金屬表面在低電平輻照E_外low下的垂直于磁場切向分量的感應表面電流，得到低電平輻照場強與金屬表面感應電流之間的傳輸函數＝I_表low/E_外low；

三、利用高低電平之間的線性關系外推高電平輻照場強下的感應表面電流：

I_表high＝E_外high×I_表low/E_外low；

四、對受試件通過表面電流探頭注入高電平輻照場強下的感應表面電流I_表high完成試驗。

依據上述特征，所述步驟二包含以下步驟：

2.1)用表面電流探頭分段測量受試件的關注區域金屬表面在低電平輻照下的垂直于磁場切向分量的感應表面電流；

2.2)沿垂直電流方向按傳感線圈寬度遞增逐次對關注區域覆蓋測量，相加全部測量值得到關注區域總表面電流I_表low；

2.3)用不同頻率低電平輻照值重復步驟2.1)～2.2)完成全段的掃描測量；

將步驟2.3)獲得的測量數據通過歸一化得到低電平輻照場強與金屬表面感應電流之間的傳輸函數＝I_表low/E_外low。

與現有技術相比，本發明的有益效果在于利用“SCI表面電流注入法”替代EMC輻射敏感度試驗，確定替代試驗需注入的等價表面電流量值的實際測量方法，以保證有效完成替代試驗。試驗頻率500MHz以下效果最好。

具體實施方式

下面結合實施例對本發明作進一步的詳細說明。

為了避免高電平輻射場帶來的種種缺點，本發明使用表面電流注入測量法在實際測量受試件的表面電流過程中，使用足夠安全廉價的低電平輻射場，只要場強足以保證在表面電流探頭檢測靈敏度之上有一定余量。

高電平輻射敏感度試驗是模擬受試件在其工作環境下可能遇到的最惡劣電磁應力，以及考核其最敏感部位是否受干擾。因此，只要對受試件注入的電流能反映受試件在遭遇入射場輻射的各種情況下所產生的最大電流，即注入電流為輻射場感應電流的包絡線，就可認為二者等效。

表面電流注入測量法(簡稱：SCI)的基點在于“外部電磁環境EME應力對EUT的等價電磁效應和EUT功性能的等價響應”，思路是“為得到EUT等價效應和響應，需找出全部電磁能量偶合途徑，由各條途徑的傳輸函數把原EME應力換算成實際的SCI量值”。

“SCI表面電流注入法”替代EMC輻射敏感度試驗的技術實質是，用“電路傳導電流”應力替代“空間輻射電磁場”應力，因此關鍵步驟之一是，確定與原輻射試驗標準規定的輻射場強對應的替代試驗需注入的表面電流。有理論計算和實際測量兩條途徑供選擇，本發明采用了實際測量求得注入表面電流量值的方法。

在低電平輻照與原電高平輻射試驗相同布局配置的同時，用表面電流探頭實測受試件表面感興趣區域的感應表面電流。

由于一般媒介的固有線性均勻特征，可以合理假設輻照場電平與金屬表面產生的感應電流具有線性傳遞函數關系(實際試驗也證明有此關系)。據此利用高低電平之間的線性關系外推導出原試驗標準要求的高電平輻照場下的感應電流，這就是替代試驗應該注入的表面電流值。

經表面電流探頭將該量值電流注入到金屬表面上，以模擬替代高電平輻照場下的金屬表面感應電流分布，由此得到的系統/設備的敏感情況就可與高電平輻射場照射時相比擬等價。