[發明專利]一種太赫茲波安檢成像裝置

有效

• 申請號: 201510364628.4
• 申請日: 2015-06-26
• 公開（公告）號: CN105044017B
• 公開（公告）日: 2018-02-09
• 發明（設計）人: 高翔;王卓;丁青;段瑋倩;郝叢靜;何君
• 申請（專利權）人: 北京航天易聯科技發展有限公司
• 主分類號: G01N21/3586
• 分類號: G01N21/3586;G01V8/10
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司11319
• 代理人: 蘇培華

技術領域

本發明涉及公共安全技術領域，特別是涉及一種太赫茲波安檢成像裝置。

背景技術

安全檢查的內容主要是檢查旅客及其行李物品中是否攜帶槍支、彈藥、易爆、腐蝕、有毒放射性等危險物品,以確保航空器、客車及乘客的安全。

安檢儀是借助于輸送帶將被檢查行李送入X射線檢查通道而完成檢查的電子設備。行李進入X射線檢查通道，將阻擋包裹檢測傳感器，檢測信號被送往系統控制部分，產生X射線觸發信號，觸發X射線的射線源發射X射線束。一束經過準直器的扇形X射線束穿過輸送帶上的被檢物品，X射線被被檢物品吸收，最后轟擊安裝在通道內的雙能量半導體探測器。探測器把X射線轉變為信號，這些很弱的信號被放大，并送到信號處理機箱做進一步處理。但是X射線對人體健康存在威脅。

因此，目前需要本領域技術人員迫切解決的一個技術問題就是：如何在不使用X射線的情況下進行安檢。

發明內容

本發明實施例提供一種太赫茲波安檢成像裝置，以解決安檢儀發射的X射線對人體健康存在威脅的問題。

本發明實施例提供了一種太赫茲波安檢成像裝置，包括：楔形俯仰掃描鏡、楔形旋轉掃描鏡、橢球面鏡、探測器和處理器；

所述楔形俯仰掃描鏡將被測物體反射的太赫茲波反射至所述橢球面鏡；所述橢球面鏡匯聚所述太赫茲波至所述楔形旋轉掃描鏡；所述楔形旋轉掃描鏡將所述太赫茲波反射至所述探測器，形成對所述被測物體進行掃描的光路；

所述探測器接收所述太赫茲波，轉換所述太赫茲波，生成電壓信號；

所述處理器接收所述電壓信號，生成太赫茲圖像。

優選地，所述橢球面的兩個焦點分別于與所述楔形俯仰掃描鏡的楔形面的中心和所述楔形旋轉掃描鏡的楔形面的中心相對應。

優選地，所述楔形俯仰掃描鏡和所述楔形旋轉掃描鏡的楔角為10°。

優選地，所述裝置還包括：與所述楔形俯仰掃描鏡連接的第一傳動桿，所述第一傳動桿與地面之間的夾角為39度；

所述楔形俯仰掃描鏡以所述第一傳動桿的垂線為法線進行軸俯仰運動。

優選地，所述楔形俯仰掃描鏡的俯仰角度為±15°。

優選地，所述裝置還包括：與所述楔形旋轉掃描鏡連接的第二傳動桿，所述第二傳動桿與地面之間的夾角為46°；

所述楔形旋轉掃描鏡的轉速為3.125轉/秒。

優選地，所述楔形旋轉掃描鏡每旋轉34周，所述楔形俯仰掃描鏡俯仰1次。

優選地，所述處理器包括：圖像處理器，和，與所述圖像處理器分別連接的高速采集卡、可見光攝影儀和顯示界面；

所述高速采集卡，用于接收所述探測器發送的電壓信號；

所述圖像處理器，用于將所述電壓信號轉換為太赫茲圖像，將所述太赫茲圖像與所述可見光攝影儀拍攝的圖像進行拼接，生成拼接圖像；

所述顯示界面顯示所述拼接圖像。

與現有技術相比，本發明實施例包括以下優點：

可以利用被測物體反射的太赫茲波，生成太赫茲圖像，識別被測物體中的違禁物品，實現對被測物體的安檢。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的一種太赫茲波安檢成像裝置的結構示意圖；

圖2為本發明實施例提供的處理器結構示意圖；

圖3為本發明實施例提供的一種太赫茲波安檢成像裝置的結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

圖1為本發明實施例提供的一種太赫茲波安檢成像裝置的結構示意圖。

為解決安檢儀發射的X射線對人體健康存在威脅的問題，本發明實施例提供了一種太赫茲波安檢成像裝置，如圖1所示，該裝置包括：楔形俯仰掃描鏡1、橢球面鏡2、楔形旋轉掃描鏡3、探測器4和處理器5。