[發明專利]一種陣列基板及其制造方法

在審

• 申請號: 201510362901.X
• 申請日: 2015-06-26
• 公開（公告）號: CN105093734A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 高冬子
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G02F1/1333
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 張文娟;朱繪

技術領域

本發明涉及半導體加工領域，具體說涉及一種陣列基板及其制造方法。

背景技術

隨著液晶顯示屏制造技術的發展，當前越來越多的陣列基板使用了彩色濾光片集成技術(Color-filteronArray，COA)。COA技術是將彩色濾光片(Color-filter，CF)與陣列基板(Array)集成在一起的一種集成技術。采用COA技術的陣列基板具有以下優點：

1)上下基板自對準。在傳統結構下，當前后兩片玻璃基板上分別加工完成薄膜晶體管(ThinFilmTransistor，TFT)陣列和彩色濾光色阻后，需要將兩片玻璃基板上相應的像素位置對準后再封盒。即存在一個對準工藝，對準工藝的準確性將直接影響顯示器的質量。采用COA技術后，因TFT陣列以及彩色濾光色阻都在一片玻璃基板上，可以自對準，省卻了對準工藝，簡化了加工過程，提高了產品質量。

2)降低成本。彩色濾光片在液晶顯示器的成本中占有很大的比重，將彩色濾光片集成制備在陣列基板上可以減少彩色濾光片的制造工藝，有效降低成本。另外，彩色濾光片和陣列基板往往由不同廠商生產，在配合上需要消耗人力物力，質量也難以保證。而COA技術可以解決上述問題，降低成本。

3)提高產品性能。采用COA技術可將降低液晶顯示屏基板上黑色矩陣(blackmatrix)的線寬，提高液晶顯示屏基板的開口率，相應的液晶顯示屏基板的透過率也被大大提高。

在液晶顯示屏的制造過程中，在陣列基板完成后，需要進行陣列檢測和修補來提高良品率。陣列檢測和修補是通過測試設備檢測后，通過人尋找缺陷或者不良的位置進行修補。

對于采用COA技術的陣列基板，由于在陣列基板上集成有彩色濾光色阻，因此陣列檢測和修補只能針對有彩色濾光色阻覆蓋的陣列基板進行。但是，彩色濾光色阻會對陣列檢測和修補產生干擾，提高缺陷或者不良的位置的發現難度，最終影響陣列基板的良品率。相對于沒有采用COA技術的陣列基板，采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低。

因此，為了解決采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低的問題，需要一種新的陣列基板。

發明內容

為了解決采用COA技術的陣列基板的良品率相對偏低的問題，本發明提供了一種陣列基板，所述陣列基板設置有彩色濾光色阻，所述陣列基板包括顯示區以及非顯示區，其中：

所述彩色濾光色阻完全覆蓋所述顯示區；

所述彩色濾光色阻不覆蓋/部分覆蓋所述非顯示區。

在一實施例中，所述非顯示區包括驅動電路區，其中，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述驅動電路區。

在一實施例中，所述驅動電路區包括薄膜晶體管電路。

在一實施例中，所述非顯示區包括走線區，其中，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述走線區。

在一實施例中，所述非顯示區包括走線區，其中，所述彩色濾光色阻部分覆蓋所述走線區。

在一實施例中，所述走線區包括用于傳輸掃描信號的掃描線以及用于傳輸數據信號的數據線，所述彩色濾光色阻不覆蓋所述掃描線和/或所述數據線。

在一實施例中，所述彩色濾光色阻僅僅覆蓋所述顯示區。

本發明還提供了一種陣列基板的制造方法，所述方法包含陣列基板構造步驟以及彩色濾光色阻覆蓋步驟，其中，所述陣列基板包含顯示區以及非顯示區，在所述彩色濾光色阻覆蓋步驟中：

將彩色濾光色阻完全覆蓋所述顯示區；

令所述彩色濾光色阻不覆蓋/部分覆蓋所述非顯示區。

與現有技術相比，本發明的陣列基板的結構更加便于進行陣列檢測/修補，根據本發明的陣列基板以及陣列基板構造方法可以大大提高集成了彩色濾光片的陣列基板的良品率。

本發明的其它特征或優點將在隨后的說明書中闡述。并且，本發明的部分特征或優點將通過說明書而變得顯而易見，或者通過實施本發明而被了解。本發明的目的和部分優點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的步驟來實現或獲得。

附圖說明

附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實施例共同用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中：

圖1是一根據本發明的陣列基板一部分的平面示意圖；

圖2是一根據本發明的陣列基板一部分的截面示意圖。

具體實施方式