[發明專利]基于入射角的AVO近似公式進行屬性提取的方法在審
| 申請號: | 201510348231.6 | 申請日: | 2015-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN104977610A | 公開(公告)日: | 2015-10-14 |
| 發明(設計)人: | 張廣智;鄭靜靜;印興耀 | 申請(專利權)人: | 中國石油大學(華東) |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28 |
| 代理公司: | 山東濟南齊魯科技專利事務所有限公司 37108 | 代理人: | 鄭向群 |
| 地址: | 266580 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 入射角 avo 近似 公式 進行 屬性 提取 方法 | ||
技術領域
本發明涉及地震資料處理領域,是一種利用地震數據進行儲層識別的方法。
背景技術
AVO技術是根據振幅隨炮檢距的變化規律所反映出的地下巖性及其孔隙流體的性質來直接預測油氣和估計地殼巖性參數的一項技術。其理論基礎是描述平面波在水平分界面上反射和折射的Zoeppritz方程。完整的Zoeppritz方程形式復雜,?物理意義不明確,無法直接應用于地震數據的處理和參數反演。盡管人們早就認識到了這一點,但在早期的研究中,人們僅從數值計算的角度對Zoeppritz描述的反射系數進行了各種討論和近似。Muskat系統地計算了彈性介質中平面波的反射和透射系數;Koefoed利用17組不同彈性參數的模型,詳細地研究了泊松比對兩個各向同性介質之間的反射界面所產生的產生的反射系數的影響,并第一次給出了將泊松比與反射系數直接聯系起來的Zoeppritz近似方程。Bortfeld第一個給出了物理意義比較明確的反射系數近似計算公式,使得基于Zoeppritz方程的反射和透射問題真正應用到了勘探地球物理領域。在以上工作的基礎上,不少人做了大量的工作,分別從不同的方面對Zoeppritz方程進行了詳細的討論和簡化,提出了不同假設條件下的縱波反射振幅的近似表達式。但是所有的近似公式中角度都是應用的上層入射角和下層透射角的平均,給進一步的參數估算帶來一定的誤差。
發明內容
本發明的目的在于避免現有技術的不足而提供基于入射角的AVO近似公式進行屬性提取的方法。
本發明的技術方案是:基于入射角的AVO近似公式進行屬性提取的方法,實現過程包括:1)基于入射角的AVO近似公式的提出;2)基于入射角的AVO近似公式的理論推導;3)應用常規方法提取P、G,Rs的屬性;4)將屬性歸一化;5)由井數據或者研究區域的經驗公式確定系數b值,然后應用公式(14)????????????????????????????????????????????????和公式(15)對常規方法提取的屬性進行修正;6)將修正結果與井數據進行對比分析,根據分析結果對修正結果進行校正,得到最終的屬性;其中,P是由零炮檢距構成的地震道,即縱波疊加道,代表對反射界面兩側的波阻抗變化的響應;斜率G為梯度疊加道,代表對橫波速度、縱波速度和體密度變化的響應,是由入射角近似公式計算得到的,G0代表對橫波速度、縱波速度和體密度變化的響應,由常規近似公式計算的得到;Rs表示由入射角近似公式計算的橫波阻抗反射系數,為由常規近似公式計算的橫波阻抗反射系數;
具體的求取方法為:?????????????
1)由Aki和Shuey近似可得:
??????(1)
其中,
,,
,,,
R(θ)表示縱波反射系數,和分別為反射界面上、下地層介質的密度,和分別是反射界面上下上、下地層的縱波速度,和分別是上、下地層的橫波速度,和分別是地層的入射角和透射角
2)根據Snell定律有:
????????(2)
對公式(1)左邊項進行泰勒展開,及
???????(3)
將公式(3)代入公式(2)可得:
??????(4)
又因為:
??????(5)
所以可得:
??????(6)
當采用一階近似時,上式可以寫成:
????(7)
令
則在此基礎上有
而當和相差不大時,
,
3)這樣可以得到基于入射角的AVO近似公式:
????(8)
4)Gardner等人于1974提出的密度與縱波速度之間的經驗公式的形式為[6]:
其中,a和b為系數(一般取a=0.31,b=0.25)
由上式可得
則
????(9)
又因為
代入上式得
所以
即:
將上式代入公式(8)得:
(10)
即:
???????(11)
其中,
,
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