[發明專利]檢測箭筈豌豆裂莢率的裝置及其方法有效
| 申請號: | 201510347598.6 | 申請日: | 2015-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN104921266A | 公開(公告)日: | 2015-09-23 |
| 發明(設計)人: | 董瑞;王彥榮;劉志鵬;董德珂 | 申請(專利權)人: | 蘭州大學 |
| 主分類號: | A23N5/00 | 分類號: | A23N5/00 |
| 代理公司: | 蘭州振華專利代理有限責任公司 62102 | 代理人: | 張真 |
| 地址: | 730000 甘肅*** | 國省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 豌豆 裂莢率 裝置 及其 方法 | ||
技術領域
本發明主要涉及一種鑒定箭筈豌豆裂莢率的裝置。具體涉及箭筈豌豆裂莢率的測定。
背景技術
箭筈豌豆(Vicia?sativa?L.)為一年生草本植物,莖直立、蔓生或卷須攀援,在我國多種植于長江中下游以及華北和西北諸省區,廣泛的適應性和優良的經濟價值,使箭筈豌豆作為優良的牧草和綠肥作物在我國草業系統中發揮著不可替代的作用(陳默君等.2002,中國飼用植物,中國農業出版社;南志標等.2004,五個箭筈豌豆品系基因型與環境互作效應及農藝性狀穩定性,生態學報;劉杰淋等.2011,20個俄羅斯箭舌豌豆引種評價試驗,黑龍江農業科學)。
但是,箭筈豌豆莢果在成熟后存在自然開裂,從而引起落粒現象的發生,且不同品種之間裂莢落粒情況差異十分明顯。同時,箭筈豌豆成熟后在受到自然風力、機械收割等外力作用影響,會進一步提高箭筈豌豆的裂莢率,造成較大的種子損失,使箭筈豌豆作為一種豆科飼料作物大規模推廣使用受到了一定的限制(Abd,et?al.1993,Selection?for?Non-Shattering?Common?Vetch,Vicia?sativa?L,Plant?Breeding)。Abd等(1993)對900份箭筈豌豆種質進行裂莢率評價,最終有3份種質不裂,只占總數的0.33%。Wouw等(Wouw,et?al.2003,Agro-morphological?characterisation?of?common?vetch?and?its?close?relatives,Euphytica)對多個國家的454份種質進行了評價,其中采集自烏茲別克斯坦的種質平均裂莢率達到了93%。因此選擇裂莢率低的箭筈豌豆品種是減少種子產量損失的重要途徑。但是目前對箭筈豌豆裂莢率的檢測尚未形成科學系統的檢測方法。一般采用一些較為主觀的方法,比如在箭筈豌豆成熟期觀察田間箭筈豌豆自然裂莢情況,根據裂莢比率來判斷該品種裂莢率的高低。或者通過手指按壓果莢,再根據果莢開裂情況來判斷裂莢率的高低。但是這些方法由于周圍自然環境的不同和指壓力度大小很難一致,使其鑒定結果差異較大,在科研和生產中并不適用。
發明內容
本發明的目的一是克服現有技術的不足之處,提供一種檢測箭筈豌豆裂莢率的裝置。其簡便、經濟、科學。
本發明的又一目的是提供一種檢測箭筈豌豆裂莢率的方法。以便快速、高效和準確的鑒定箭筈豌豆的裂莢率。此方法省時省力,操作簡便,在實驗室條件下較短時間內能夠很好的完成。研究中,隨機選取的5個箭筈豌豆種質都可適用,具有很強的推廣價值,有助于育種工作者對箭筈豌豆種質裂莢率的鑒定,使箭筈豌豆更好的為畜牧業生產服務。
為實現上述目的,本發明采取的技術方案為:一種檢測箭筈豌豆裂莢率的裝置,其主要特點在于包括有放置待測果莢的樣品盒,樣品盒底部設有拉動底板;樣品盒通過固定桿固定在高度標桿上,高度標桿上設有固定桿移動槽;高度標桿底部固連樣品收集箱,樣品收集箱內底部為抽拉式取樣屜,樣品收集箱外底部設有滾動輪。
所述的檢測箭筈豌豆裂莢率的裝置,所述的樣品盒為矩陣排列的長方形柵格,每一格的長度大于箭筈豌豆莢的長度,每一格的寬度大于箭筈豌豆莢的寬度。
一種檢測箭筈豌豆裂莢率的方法,其主要特點在于包括如下步驟:
A.采集箭筈豌豆成熟果莢備用;
B.將采集到的箭筈豌豆成熟果莢放置在裝置的樣品盒內,通過固定桿調整樣品盒到樣品收集箱底部的高度,拉動樣品盒底部的拉動底板,箭筈豌豆成熟果莢在相同高度同步掉落在樣品收集箱底部的取樣屜內;通過固定桿調整樣品盒的高度,更換不同樣孔尺寸的樣品盒,以適應不同的實驗需求;
C.拉出取樣屜,觀測摔裂的箭筈豌豆果莢數,按照下述公式計算箭筈豌豆裂莢率:
箭筈豌豆裂莢率=摔裂的箭筈豌豆果莢數/測量的箭筈豌豆果莢總數×100%。
本發明的有益效果:
與現有技術相比,本發明提供了一種鑒定箭筈豌豆裂莢率的裝置,它利用果莢在相同高度自由落體后果莢的開裂情況來進行檢測,改變了以往由人手工檢測的模式,降低了人為操作的不準確性,具有靈敏性強、準確率高、重復性強和快速便捷等特點,能夠進行大批量箭筈豌豆種質的檢測。
附圖說明:
圖1.是本發明的結構示意圖;
圖2.是圖1中高度標桿的示意圖;
圖3.是圖1中20孔樣品盒的示意圖;
圖4.是40孔樣品盒的示意圖;
圖5.是相同數量果莢在同一高度利用裝置批量測量裂莢率所用時間同手持單個果莢重復測量裂莢率所用時間對比;
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