[發(fā)明專利]一種擺動軸與主軸軸線共面度檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510345632.6
• 申請日: 2015-06-19
• 公開（公告）號: CN104897106B
• 公開（公告）日: 2017-09-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙陽;彭陽建
• 申請（專利權(quán)）人: 紹興紹力機電科技有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 西安弘理專利事務(wù)所61214
• 代理人: 羅笛

1.一種擺動軸與主軸軸線正交共面度檢測方法，其特征在于，使用了一種擺動軸與主軸軸線正交共面度檢測裝置，所述檢測裝置由標準檢棒(5)、第一非接觸位移傳感器(6)、第二非接觸位移傳感器(8)、第一三維移動微調(diào)機構(gòu)(7)、第二三維移動微調(diào)機構(gòu)(9)及測量轉(zhuǎn)臺組成；測量轉(zhuǎn)臺包括轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)體(10)和力矩電機(11)，轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)體(10)下端與力矩電機(11)的轉(zhuǎn)子固定連接，力矩電機(11)的殼體固定在待測裝置的工作臺上；標準檢棒(5)與待測裝置的主軸組件回轉(zhuǎn)體(4)同軸固定連接；第一三維移動微調(diào)機構(gòu)(7)和第二三維移動微調(diào)機構(gòu)(9)都固定在轉(zhuǎn)臺回轉(zhuǎn)體(10)的臺面上；第一非接觸位移傳感器(6)的支架安裝在第一三維移動微調(diào)機構(gòu)(7)的上面，第二非接觸位移傳感器(8)的支架安裝在第二三維移動微調(diào)機構(gòu)(9)的上面，第一非接觸位移傳感器(6)和第二非接觸位移傳感器(8)的測頭都正對著標準檢棒(5)；

所述檢測方法包括如下步驟：

步驟1，將待測裝置除擺動軸與主軸以外的其他運動軸全部鎖緊；

步驟2，檢測出測量轉(zhuǎn)臺軸線相對主軸軸線的安裝傾斜偏差⊿θ_CY；

步驟3，進行擺動軸與主軸軸線共面度檢測，按照以下步驟實施：

步驟3-1，將擺動軸順時針轉(zhuǎn)動90度，使主軸前端指向X軸的一端，調(diào)整第一三維移動微調(diào)機構(gòu)(7)使第一非接觸位移傳感器(6)的測頭在XZ平面內(nèi)沿Z軸方向?qū)蕵藴蕶z棒(5)的最大直徑，記錄此時第一非接觸位移傳感器(6)的讀數(shù)δ_6-1；

步驟3-2，將擺動軸旋轉(zhuǎn)180度，使主軸前端指向X軸的另一端；

步驟3-3，將測量轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)180度，使第一非接觸位移傳感器(6)的測頭隨測量轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動，并再次對準標準檢棒(5)，再次記錄第一非接觸位移傳感器(6)的讀數(shù)δ_6-2；

步驟3-4，按照公式(1)得到擺動軸軸線與主軸軸線的共面度偏差e，

e＝(δ_6-2-δ_6-1)/2±L_X×⊿θ_CY(1)

式中，Lx為第一非接觸位移傳感器(6)和擺動軸軸線間沿X軸方向的距離。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述步驟2具體包括以下子步驟：

步驟2-1，轉(zhuǎn)動擺動軸，使主軸的軸線平行于Z軸方向；

步驟2-2，調(diào)整第一三維移動微調(diào)機構(gòu)(7)和第二三維移動微調(diào)機構(gòu)(9)的位置，使第一非接觸位移傳感器(6)和第二非接觸位移傳感器(8)的測頭均在XZ平面內(nèi)沿X軸方向?qū)蕵藴蕶z棒(5)的最大直徑，兩個測頭在Z軸方向的間隔距離為L_Z；

步驟2-3，調(diào)整測量轉(zhuǎn)臺的位置及擺動軸的方向，使測量轉(zhuǎn)臺在360度的轉(zhuǎn)動中第一非接觸位移傳感器(6)和第二非接觸位移傳感器(8)的讀數(shù)變化最小，然后設(shè)置第一非接觸位移傳感器(6)和第二非接觸位移傳感器(8)的讀數(shù)均為零；

步驟2-4，將測量轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動180度，然后記錄第一非接觸位移傳感器(6)的讀數(shù)δ₆和第二非接觸位移傳感器(8)的讀數(shù)δ₈，用公式(2)求出測量轉(zhuǎn)臺軸線相對主軸軸線的安裝傾斜偏差⊿θ_CY，

⊿θ_CY＝(δ₆-δ₈)/Lz(2)

式中，L_Z為第一非接觸位移傳感器和第二非接觸位移傳感器的兩個測頭在Z軸方向的間隔距離。