[發明專利]基于時間序列二維化的電離層垂直總電子含量預報方法

有效

• 申請號: 201510344370.1
• 申請日: 2015-06-19
• 公開（公告）號: CN104992054B
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 胡伍生;王松寒;華遠峰;丁茂華
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G06N3/02
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

1.基于時間序列二維化的電離層垂直總電子含量預報方法，其特征在于：包括以下的步驟：

S1：通過已知的電離層垂直總電子含量數據分析電離層垂直總電子含量隨時間的變化特性，包括電離層垂直總電子含量隨著日期的變化特性和電離層垂直總電子含量隨著時刻的變化特性；

S2：根據步驟S1中的已知的電離層垂直總電子含量數據，采用日期和時刻分別作為x軸和y軸，構建時間序列二維化平面，時間序列二維化平面中每一個坐標點都對應于一個電離層垂直總電子含量數據；根據步驟S1中的電離層垂直總電子含量隨時間的變化特性，確定待預測的電離層垂直總電子含量與已知的電離層垂直總電子含量之間的權值，并根據權值對準備作為輸入層的已知的電離層垂直總電子含量數據進行加權處理；

所述步驟S2中的權值w_i,j為：

所述步驟S2中的加權處理過程為：

其中，(m,n)為待預測的電離層垂直總電子含量數據在所述時間序列二維化平面中的坐標，(i,j)為所述準備作為輸入層的已知的電離層垂直總電子含量數據在所述時間序列二維化平面中的坐標，d_i,j為所述二維化平面中坐標為(m,n)的點與坐標為(i,j)的點之間的距離，x_i,j為所述準備作為輸入層的已知的電離層垂直總電子含量數據，為所述經過加權處理的電離層垂直總電子含量數據；

S3：采用經過步驟S2加權處理的電離層垂直總電子含量數據作為輸入層，采用待預測的電離層垂直總電子含量數據作為輸出層，構建神經網絡模型；

S4：利用神經網絡模型對電離層垂直總電子含量進行預報。