[發明專利]降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法在審
| 申請號: | 201510332585.1 | 申請日: | 2015-06-16 |
| 公開(公告)號: | CN104862751A | 公開(公告)日: | 2015-08-26 |
| 發明(設計)人: | 郭崇武;賴奐汶 | 申請(專利權)人: | 廣州超邦化工有限公司 |
| 主分類號: | C25D3/38 | 分類號: | C25D3/38;C25D21/14 |
| 代理公司: | 廣州凱東知識產權代理有限公司 44259 | 代理人: | 羅丹 |
| 地址: | 510000 廣東省廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 降低 酸銅鍍液中 氯離子 濃度 新方法 | ||
技術領域
本發明涉及處理酸銅鍍液中氯離子的方法。
背景技術
在光亮酸銅鍍液中必須存在少量的氯離子才能夠得到全光亮的鍍層,而且 氯離子還能降低因加入光亮劑所產生的內應力。氯離子的質量濃度一般在20~ 80mg/L,濃度過低時,鍍層整平性和光亮度下降,內應力較大,且容易產生樹 枝狀條紋,嚴重時鍍層變得粗糙有針孔,甚至燒焦,濃度過高,鍍層不夠光亮, 低電流密度區鍍層發霧。當鍍液中氯離子濃度偏高時,目前主要采用鋅粉處理 法。也可以采用碳酸銀或硫酸銀處理法,但該法成本太高,一般不被采用。采 用氧化亞銅處理酸銅鍍液中氯離子的方法曾經有過報道,但在生產中還未見廣 泛使用,實驗表明,氧化亞銅不夠穩定,在存放中容易被氧化生成氧化銅。用 鋅粉處理氯離子,對其機理存在認識上的錯誤,一般認為,鋅粉將鍍液中的Cu2+離子還原成Cu+離子,然后Cu+離子與氯離子生成氯化亞銅沉淀,從而降低鍍液 中氯離子的濃度。本發明人報道了對這一機理重新研究的結果[1],實驗表明,用 鋅粉處理氯離子,金屬鋅首先與酸銅鍍液中的Cu2+離子反應生成鋅離子和金屬 銅,接下來氯離子和Cu2+離子同時與金屬銅反應生成氯化亞銅沉淀。
參考文獻:[1]Chongwu?Guo.Reconsideration?ofthe?Mechanism?for?Treating? Chloride?Ion?in?anAcid?Copper?Plating?Bath.Journal?ofApplied?Surface?Finishing, 2008,Vol.3,No.2:81-84。
發明內容
本發明的提出了降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,解決了傳統處理方 法使用鋅粉在鍍液中產生鋅雜質的問題。
本發明的技術方案是這樣實現的:降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,包 括以下步驟:在酸銅鍍液加入銅粉反應10~20min后過濾,去掉沉淀物。
優選的,所述的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,向所述酸銅鍍液加 入銅粉為1~2g/L,反應10~20min,一般情況下,氯離子的去除率為63%。
優選的,所述的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,其特征在于:當所 述酸銅鍍液中氯離子的質量濃度小于210mg/L時,鍍液加入銅粉為1~2g/L, 反應10~20min,過濾分離后氯離子濃度便會滿足工藝要求。
優選的,所述的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,所述酸銅鍍液中氯 離子的質量濃度大于210mg/L時,需要對氯離子進行兩次或兩次以上的處理, 才能使氯離子濃度符合工藝要求。
優選的,所述的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,其特征在于:加入 銅粉之前將鍍槽中的酸銅鍍液轉移至備用槽,去掉沉淀物之后,將處理后的酸 銅鍍液轉移至鍍槽。
優選的,所述的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,包括以下步驟:將 酸銅鍍液從鍍槽抽到備用槽中,用銅粉處理氯離子,加入銅粉,用攪拌棒強烈 拌酸銅鍍液5min,然后適當攪拌酸銅鍍液,10~20min后用過濾機過濾酸銅鍍 液,將濾液直接輸入原鍍槽。
本發明的有益效果為:本發明的降低酸銅鍍液中氯離子濃度的新方法,鍍 液中的Cu2+離子和氯離子同時與銅粉反應生成氯化亞銅沉淀,達到降低氯離子 的目的;本發明處理氯離子效果較好,反應速度快,10min便能反應完畢,氯 離子的去除率高,而且鍍液中不會產生鋅雜質。與傳統方法相比,本發明具有 明顯的優越性。
具體實施方式
為更好地理解本發明,下面通過以下實施例對本發明作進一步具體的闡述, 但不可理解為對本發明的限定,對于本領域的技術人員根據上述發明內容所作 的一些非本質的改進與調整,也視為落在本發明的保護范圍內。
實施例1:銅粉處理實驗
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