[發(fā)明專利]一種圖像水印檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510320159.6
• 申請日: 2011-08-26
• 公開（公告）號: CN105160620B
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余偉華
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中盈信安科技發(fā)展有限責(zé)任公司
• 主分類號: G06T1/00
• 分類號: G06T1/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372
• 代理人: 鐘日紅;張文娟

1.一種圖像水印檢測方法，其特征在于，包括：

步驟一，提取待檢測圖像中包含的水印信號，作為第一水印信號；

步驟二，對所述第一水印信號進行自相關(guān)函數(shù)計算，以生成自相關(guān)函數(shù)圖像，其中，

根據(jù)如下表達式對所述第一水印信號進行自相關(guān)函數(shù)計算，以生成自相關(guān)函數(shù)圖像：

式中，I表示對第一水印信號進行周期性拓展而生成的圖像；

x，y分別表示圖像I的寬方向的坐標(biāo)值和高方向的坐標(biāo)值；

M，N分別表示圖像I的寬和高，與待檢測圖像的寬和高相等；

u，v分別表示自相關(guān)函數(shù)的寬方向的坐標(biāo)值和高方向的坐標(biāo)值；

其中，x，u＝1…M；y，v＝1…N；

步驟三，將參考布局信息與所述自相關(guān)函數(shù)圖像分別映射到對數(shù)極坐標(biāo)系中，獲得使得二者線性相關(guān)值最大的最大坐標(biāo)點，其中，根據(jù)如下表達式對所述參考布局信息與所述自相關(guān)函數(shù)圖像的笛卡爾坐標(biāo)系點P(x,y)分別進行映射：

式中，(r,θ)分別表示對數(shù)極坐標(biāo)的極徑與極角，M_c為常數(shù)；

步驟四，根據(jù)所述最大坐標(biāo)點的坐標(biāo)值，對待檢測圖像進行恢復(fù)以得到校正圖像；以及

步驟五，基于在所述校正圖像中各與基準(zhǔn)水印模板所構(gòu)成的圖像形狀大小相一致的區(qū)域、與基準(zhǔn)水印模板之間的各相關(guān)值中的最大相關(guān)值，判斷所述最大相關(guān)值是否大于預(yù)設(shè)閾值，并根據(jù)判斷結(jié)果判斷該校正圖像中是否包含基準(zhǔn)水印信號，

其中，所述參考布局信息是在圖像的水印信號嵌入過程中附加至圖像的具有設(shè)定規(guī)則的信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟一中，

將所述待檢測圖像的灰度直方圖均衡化，獲得均衡化圖像；以及

基于所述均衡化圖像提取所述待檢測圖像中包含的所述第一水印信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步驟一中，

通過對所述均衡化圖像進行預(yù)測濾波來獲取所述待檢測圖像中的高頻率部分，作為第一水印信號。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，

通過高斯高通濾波器或巴特沃斯高通濾波器來進行預(yù)測濾波。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

若判斷出所述校正圖像含有基準(zhǔn)水印信號，則獲取校正圖像中的水印信號并對其進行解碼輸出。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，

在所述步驟三中，對所述參考布局信息與所述自相關(guān)函數(shù)圖像的映射結(jié)果進行匹配濾波以獲得使得二者的線性相關(guān)值最大的最大坐標(biāo)點。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，

根據(jù)所述最大坐標(biāo)點的坐標(biāo)值來獲得用于表征所述待檢測圖像受到的幾何攻擊的幾何攻擊參數(shù)，利用所述幾何攻擊參數(shù)對待檢測圖像進行恢復(fù)以得到校正圖像。