[發明專利]一種單層導電涂層厚度和電導率渦流檢測方法及裝置有效
| 申請號： | 201510313631.3 | 申請日： | 2015-06-09 |
| 公開（公告）號： | CN104913716B | 公開（公告）日： | 2017-06-06 |
| 發明（設計）人： | 于亞婷;來超;張德俊 | 申請（專利權）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06;G01R27/02 |
| 代理公司： | 成都宏順專利代理事務所(普通合伙)51227 | 代理人： | 周永宏,王偉 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 單層 導電 涂層 厚度 電導率 渦流 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種單層導電涂層厚度和電導率渦流檢測方法，其特征在于，包括以下步驟:
步驟一、通過信號發生模塊產生單個正弦激勵信號，并將其輸入探頭的激勵線圈；
步驟二、將探頭固定在具有涂層的被測件上方，在被測件和探頭之間的空間形成一個耦合的電磁場，探頭的檢測線圈將探測到的磁感應強度信號轉化成相對應的電壓信號，并將該電壓信號作為響應信號輸入到信號處理模塊；
步驟三、通過信號處理模塊將得的電壓信號進行放大濾波處理，濾波放大后得到的電壓信號輸入到信號采集模塊；通過信號采集模塊對得到的電壓信號進行數據采集，提取出該電壓信號的幅值，作為反演模塊的一個輸入信號U1；
步驟四、改變步驟一中信號發生模塊正弦激勵信號的頻率，重復步驟二和三，得到的電壓信號的幅值作為反演模塊的另一個輸入信號U2；
步驟五、將采集到的電壓信號U1、U2輸入反演模塊計算出涂層厚度d和電導率σ；反演模塊采用的公式為：
U1＝(k1σ+b2)d+b1，
U2＝(k2σ+b4)d+b3，
其中，k1為U1擬合直線的斜率與電導率變化關系擬合直線的斜率，b1為U1隨涂層厚度變化擬合直線的截距，b2為U1擬合直線斜率與電導率變化擬合直線的截距，k2為U2擬合直線的斜率與電導率變化關系擬合直線的斜率，b3為U2隨涂層厚度變化擬合直線的截距，b4為U2擬合直線斜率與電導率變化擬合直線的截距。
2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：通過反演模塊計算出的涂層厚度d和電導率σ最終通過輸出模塊輸出。
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