[發(fā)明專利]固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析方法及裝置

在審

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• 申請日: 2015-06-08
• 公開（公告）號: CN104866411A
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊挺
• 申請（專利權(quán)）人: 北京奇虎科技有限公司;奇智軟件（北京）有限公司
• 主分類號: G06F11/34
• 分類號: G06F11/34;G06F11/32
• 代理公司: 北京市立方律師事務(wù)所 11330
• 代理人: 張?bào)銓?/td>

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，本發(fā)明涉及一種固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析方法及裝置。

背景技術(shù)

SSD(Solid?State?Disk，固態(tài)硬盤)是用固態(tài)電子存儲芯片陣列而制成的硬盤，由控制單元和存儲單元(FLASH芯片)組成。SSD的接口規(guī)范和定義、功能及使用方法與普通硬盤相同。SSD不再采用機(jī)械轉(zhuǎn)動裝置，因而具有傳統(tǒng)機(jī)械硬盤不具備的快速讀寫、質(zhì)量輕、能耗低以及體積小等優(yōu)勢。SSD被廣泛應(yīng)用于軍事、車載、工控、視頻監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)終端、電力、醫(yī)療、航空等、導(dǎo)航設(shè)備等領(lǐng)域。隨著SSD的廣泛使用，對其性能進(jìn)行監(jiān)測的方法和技術(shù)也提出了新的要求。

當(dāng)前，只有在發(fā)現(xiàn)機(jī)器設(shè)備出現(xiàn)異常狀況后，才會去檢查SSD是否正常，而現(xiàn)有的SSD檢測方式為人工登陸機(jī)器設(shè)備檢查SSD的各項(xiàng)性能指標(biāo)。因此，現(xiàn)有方式不能實(shí)現(xiàn)周期性地自動化監(jiān)控，浪費(fèi)人力資源成本；也無法在硬件發(fā)生故障前發(fā)現(xiàn)潛在問題而導(dǎo)致前端數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)中斷，對前端業(yè)務(wù)產(chǎn)生不良影響。

發(fā)明內(nèi)容

為克服上述技術(shù)問題或者至少部分地解決上述技術(shù)問題，特提出以下技術(shù)方案：

本發(fā)明的實(shí)施例提出了一種固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析方法，包括：

根據(jù)預(yù)定時間間隔對多個機(jī)器設(shè)備的固態(tài)硬盤進(jìn)行監(jiān)測，并采集固態(tài)硬盤的多個預(yù)定監(jiān)測項(xiàng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)；

對多個預(yù)定監(jiān)測項(xiàng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，確定固態(tài)硬盤的分析結(jié)果；

基于固態(tài)硬盤的分析結(jié)果，確定相應(yīng)的固態(tài)硬盤的硬件狀態(tài)。

本發(fā)明的另一實(shí)施例提出了一種固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析裝置，包括：

監(jiān)測模塊，用于根據(jù)預(yù)定時間間隔對多個機(jī)器設(shè)備的固態(tài)硬盤進(jìn)行監(jiān)測，并采集固態(tài)硬盤的多個預(yù)定監(jiān)測項(xiàng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)；

分析模塊，用于對多個預(yù)定監(jiān)測項(xiàng)的監(jiān)測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，確定固態(tài)硬盤的分析結(jié)果；

故障判斷模塊，用于基于固態(tài)硬盤的分析結(jié)果，確定相應(yīng)的固態(tài)硬盤的硬件狀態(tài)。

本發(fā)明的實(shí)施例中，通過周期性地對硬件設(shè)備的固態(tài)硬盤進(jìn)行自動化監(jiān)控，節(jié)約了人力資源成本；同時，由于對多個機(jī)器設(shè)備的固態(tài)硬盤進(jìn)行監(jiān)測的過程可在硬件設(shè)備實(shí)際發(fā)生故障前進(jìn)行，因此可避免由于硬件故障未提前發(fā)現(xiàn)而導(dǎo)致前端數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)中斷的問題；對于大規(guī)模集群式計(jì)算設(shè)備，可快速定位故障機(jī)器，提高固態(tài)硬盤的監(jiān)控效率；此外，在監(jiān)控到具體性能指標(biāo)異常時，能夠?qū)崟r對性能指標(biāo)進(jìn)行分析進(jìn)而確定相應(yīng)的解決方案；還能夠?qū)崟r向用戶直觀顯示固態(tài)硬盤各項(xiàng)性能測試結(jié)果，提高了用戶的監(jiān)控體驗(yàn)。

本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，這些將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。

附圖說明

本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從下面結(jié)合附圖對實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1為本發(fā)明中固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析方法一個實(shí)施例的流程示意圖；

圖2為本發(fā)明中固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析方法一個優(yōu)選實(shí)施例的流程示意圖；

圖3為本發(fā)明中固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析裝置一個實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明中固態(tài)硬盤的監(jiān)測及分析裝置一個優(yōu)選實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明一個優(yōu)選實(shí)施例中監(jiān)測數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示的示例圖。

具體實(shí)施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能解釋為對本發(fā)明的限制。

本技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，除非特意聲明，這里使用的單數(shù)形式“一”、“一個”、“所述”和“該”也可包括復(fù)數(shù)形式。應(yīng)該進(jìn)一步理解的是，本發(fā)明的說明書中使用的措辭“包括”是指存在所述特征、整數(shù)、步驟、操作、元件和/或組件，但是并不排除存在或添加一個或多個其他特征、整數(shù)、步驟、操作、元件、組件和/或它們的組。應(yīng)該理解，當(dāng)我們稱元件被“連接”或“耦接”到另一元件時，它可以直接連接或耦接到其他元件，或者也可以存在中間元件。此外，這里使用的“連接”或“耦接”可以包括無線連接或無線耦接。這里使用的措辭“和/或”包括一個或更多個相關(guān)聯(lián)的列出項(xiàng)的全部或任一單元和全部組合。