[發(fā)明專利]電子設備及其防護意外的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510306871.0
• 申請日: 2015-06-05
• 公開（公告）號: CN105100427B
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發(fā)明（設計）人: 鄭嘉琨
• 申請（專利權）人: 努比亞技術有限公司
• 主分類號: H04M1/725
• 分類號: H04M1/725
• 代理公司: 深圳協(xié)成知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 44458
• 代理人: 章小燕

1.一種防護意外的方法，其特征在于，應用于電子設備，所述方法包括：

采集第一傳感數(shù)據(jù)，解析所述第一傳感數(shù)據(jù)，得到所述電子設備的至少兩個部位所承受的壓力的特征參數(shù)；

基于所述壓力的特征參數(shù)構建壓力模型，將所構建的壓力模型與預設的壓力模型匹配得到匹配度；

所述匹配度超出預設匹配度閾值時，關斷所述電子設備的供電通路；

所述解析所述第一傳感數(shù)據(jù)包括：對連續(xù)兩個或多個周期采集的第一傳感數(shù)據(jù)進行解析；

所述壓力的特征參數(shù)包括以下信息至少之一：所述電子設備的受力位置；所述受力位置承受的壓力的數(shù)值；所述受力位置承受的壓力的變化率；

所述基于所述壓力的特征參數(shù)構建壓力模型，包括：

基于所述電子設備的受力位置、所述受力位置承受的壓力的數(shù)值以及所述受力位置承受的壓力的變化率構建以下壓力模型至少之一：

受力位置模型，表征所述電子設備的受力位置在所述電子設備本體中的位置分布；

壓力數(shù)值模型，表征所述電子設備承受超過預設壓力閾值的受力位置在所述電子本體中的位置分布；

壓力變化模型，表征所述電子設備承受超過預設變化率閾值的受力位置在所述電子設備本體中的位置分布。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，關斷所述電子設備的供電通路之前，所述方法還包括：

解析第二傳感數(shù)據(jù)，得到所述電子設備所承受的溫度和/或所述電子設備的運動特征參數(shù)；

判斷所述電子設備承受的溫度和/或所述電子設備的運動特征參數(shù)是否滿足預設條件；

如果滿足，則關斷所述電子設備的供電通路。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，關斷所述電子設備的供電通路之前，所述方法還包括：

對處于寫狀態(tài)的數(shù)據(jù)執(zhí)行備份操作。

4.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：

第一傳感單元，用于采集第一傳感數(shù)據(jù)；

第一解析單元，用于解析所述第一傳感數(shù)據(jù)，得到所述電子設備的至少兩個部位所承受的壓力的特征參數(shù)；

所述解析所述第一傳感數(shù)據(jù)包括：對連續(xù)兩個或多個周期采集的第一傳感數(shù)據(jù)進行解析；

構建單元，用于基于所述壓力的特征參數(shù)構建壓力模型，將所構建的壓力模型與預設的壓力模型匹配得到匹配度；

供電關斷單元，用于當所述匹配度超出預設匹配度閾值時，關斷所述電子設備的供電通路；

所述壓力的特征參數(shù)包括以下信息至少之一：所述電子設備的受力位置；所述受力位置承受的壓力的數(shù)值；所述受力位置承受的壓力的變化率；

所述構建單元還用于基于所述電子設備的受力位置、所述受力位置承受的壓力的數(shù)值以及所述受力位置承受的壓力的變化率構建以下壓力模型至少之一：

受力位置模型，表征所述電子設備的受力位置在所述電子設備本體中的位置分布；

壓力數(shù)值模型，表征所述電子設備承受超過預設壓力閾值的受力位置在所述電子本體中的位置分布；

壓力變化模型，表征所述電子設備承受超過預設變化率閾值的受力位置在所述電子設備本體中的位置分布。

5.如權利要求4所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備還包括：

第二傳感單元，用于采集第二傳感數(shù)據(jù)；

第二解析單元，用于解析第二傳感數(shù)據(jù)，得到所述電子設備所承受的溫度和/或所述電子設備的運動特征參數(shù)；

判斷單元，用于判斷所述承受的溫度和/或所述電子設備的運動特征參數(shù)是否滿足預設條件；

如果滿足，且所述匹配度超出預設匹配度閾值時，觸發(fā)所述供電關斷單元關斷所述電子設備的供電通路。

6.如權利要求4或5所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備還包括：

數(shù)據(jù)備份單元，用于在所述供電關斷單元關斷所述電子設備的供電通路之前，對處于寫狀態(tài)的數(shù)據(jù)執(zhí)行備份操作。