[發明專利]一種基于直方圖特征的色偏分類處理方法有效
| 申請號: | 201510305816.X | 申請日: | 2015-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN105096265B | 公開(公告)日: | 2018-09-21 |
| 發明(設計)人: | 石旭剛;歐陽忠清;董偉;郭金盛;謝榮東 | 申請(專利權)人: | 杭州中威電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 杭州天昊專利代理事務所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
| 地址: | 310012 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 直方圖 特征 分類 處理 方法 | ||
本發明提出一種基于直方圖特征的色偏分類處理方法,提供一種智能的色偏分類及校正處理方法,首先基于直方圖特征對色偏進行分類,在根據分類結果使用不同方法對其進行校正,無論分類還是校正,都具有完全的自適應性,無需人工干預。
技術領域
本發明涉及計算機圖像處理領域,尤其涉及一種基于直方圖特征的色偏分類處理方法用于計算機圖像處理及圖像的增強或復原。
背景技術
對于色偏的校正方法很多,如基于RGB空間直方圖的色調均化、HSV空間的色調飽和度調整、基于整體灰平衡假設的逐點校正、基于RETINEX的darkChannle等等。但圖像千變萬化,無論哪種方法,都不能保證適應所有的色偏圖像情況、或者在任何情況下校正結果都是最優,往往是各有所長。如圖1(a)、圖1(b)、圖1(c)、圖2(a)、圖2(b)、圖2(c)以分通道直方圖均化法與灰平衡逐點校正法為例,用不同色偏圖像進行對比測試:從圖1(a)、圖1(b)、圖1(c)中的兩組對比可以看到,第一組中利用灰平衡逐點校正法得到的校正圖像偏紅,而色調均化法校正后的圖像色彩更為真實自然;第二組圖2(a)、圖2(b)、圖2(c)中正好相反,色調均化法的效果遠遜于后者,采用色調均化處理后的圖,其顏色偏紫色,而灰平衡逐點校正處理后的圖顏色更為真實自然。示例可直觀的證明處理方法不同,其處理的效果圖像差異性,如何選擇合適的方法對圖像進行處理,是本發明所需要解決的問題。
發明內容
針對上述技術缺陷,本發明提出一種基于直方圖特征的色偏分類處理方法。
為了解決上述技術問題,本發明的技術方案如下:
一種基于直方圖特征的色偏分類處理方法,包括如下步驟:
1.1)計算通道信息量:
1.2)根據通道信息量將圖像分為單通道受損型、雙通道受損型、通道偏移型三類;
1.3)根據單通道受損型、雙通道受損型、通道偏移型三類分別選擇對應的圖像色偏校正方法。
進一步的,計算通道信息量為通計算道直方圖寬度,直方圖寬度計算的方法是指分別從直方圖兩側開始統計像素數,直到達到總像素5%為止,則該處即為分布邊界,兩側邊界差即為直方圖分布寬度。
進一步的,所述單通道受損型為在RGB空間下,某一通道直方圖寬度比其它兩通道少100時,視為單通道受損。
進一步的,所述雙通道受損為在RGB空間下,某一通道直方圖寬度比其它兩通道多100時,視為雙通道受損。
進一步的,所述通道偏移型為在RGB空間下,直方圖寬度差小于100。
進一步的,單通道受損型、雙通道受損型均采用灰平衡色偏校正法,根據單通道受損型、雙通道受損型采用不同的亮度圖的生成方式。
進一步的,當為通道偏移型采用分通道直方圖均化方法、RETINEX校正方法進行色偏校正。
本發明的有益效果在于:提供一種智能的色偏分類及校正處理方法,首先基于直方圖特征對色偏進行分類,在根據分類結果使用不同方法對其進行校正,無論分類還是校正,都具有完全的自適應性,無需人工干預。
附圖說明
圖1(a)為原始圖;
圖1(b)為將圖1(a)色調均化處理后的圖;
圖1(c)為將圖1(a)灰平衡逐點校正處理后的圖;
圖2(a)為原始圖;
圖2(b)為將圖2(a)色調均化處理后的圖;
圖2(c)為將圖2(a)灰平衡逐點校正處理后的圖;
圖3為本發明的流程圖;
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