[發明專利]一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法

在審

• 申請號: 201510287726.2
• 申請日: 2015-05-29
• 公開（公告）號: CN104898031A
• 公開（公告）日: 2015-09-09
• 發明（設計）人: 方春華;羅兵;張福增;廖一帆;周毅;湯世祥
• 申請（專利權）人: 三峽大學;南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 宜昌市三峽專利事務所 42103
• 代理人: 吳思高

1.一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟1：通過絕緣子泄漏電流測量系統，以大于10kS/s速率進行采樣，測量絕緣子泄漏電流波形及施加的電壓波形，以5個周波為單元對波形數據進行1000Hz以下的低通濾波；

步驟2：計算泄漏電流波形的特征量，包括泄漏電流幅值I_m、總諧波失真率THD、跳躍率Ty；

步驟3：計算提取電壓、電流波形的基波分量，計算電壓、電流基波間的相位差△θ；

步驟4：判斷絕緣子表面屬于無放電、微弱放電、中等強度放電、高強度放電及臨閃前的放電5種放電強度中哪一種。

2.根據權利要求1所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，步驟2中：泄漏電流幅值I_m、總諧波失真率THD的計算方法分別為：泄漏電流幅值I_m為在5周波內，泄漏電流瞬時出現的最大絕對值；THD為諧波含量與基波分量比值的百分數。

3.根據權利要求2所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，所述的步驟2中：總諧波失真率THD的計算步驟是：

總諧波失真率THD定義如式1:

THD=IHI1×100%---(1)]]>

I₁是基次諧波的有效值，I_H為n大于1次諧波的總和，通過公式2計算獲得,

IH=Σn=2∞In2---(2)]]>

其中，I_n分別為第n次諧波的電流有效值。

4.根據權利要求1所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，所述的步驟2中：跳躍率Ty的計算步驟是：以半個周波25ms為統計單元，找出每個單元的極值，計算10個極值中的絕對值的最大值和最小值，跳躍率Ty＝最大值/最小值。

5.根據權利要求4所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，所述的步驟2中：極值的定義是：若函數f(x)在x₀的一個鄰域D有定義，且對D的所有點，都有f(x)≤f(x₀)，則稱f(x₀)是函數f(x)的一個極大值；

同理，若對D的所有點，都有f(x)≥f(x₀)，則稱f(x₀)是函數f(x)的一個極小值。

6.根據權利要求1所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，所述的步驟3中：計算完電流波形的特征量后，提取電壓、電流波形的基波分量、計算電壓、電流基波間的相位差△θ，△θ＝電流基波相位-電壓基波相位。

7.根據權利要求1所述一種懸式瓷絕緣子污穢放電強度的識別方法，其特征在于，所述的步驟4中：根據計算出的幅值I_m、總諧波失真率THD、跳躍率Ty、相位差△θ，進行放電強度的判斷；放電強度分為無放電、微弱放電、中等強度放電、高強度放電和臨閃強放電5個不同等級。