[發(fā)明專利]一種節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510280918.0
• 申請(qǐng)日: 2015-05-28
• 公開（公告）號(hào): CN104950200A
• 公開（公告）日: 2015-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡士軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南通一品機(jī)械電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200
• 代理人: 張惠忠

1.一種節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一，在待評(píng)價(jià)的節(jié)能電容元件組中抽取百分之十?dāng)?shù)量的被測(cè)電容元件，給每只被測(cè)電容元件編號(hào)后測(cè)量并記錄被測(cè)電容元件的平均初始電容值，然后再隨機(jī)分組；

步驟二，將隨機(jī)分組后的被測(cè)電容元件放入溫度恒定的烘箱中，烘箱溫度為45-55℃；

步驟三，采用交直流結(jié)合方式，給抽樣電容元件依次施加1.1-1.25、1.3-1.45、1.5-1.65倍電容元件額定電壓的交流電，然后再依次施加1.7-1.85、1.90-2.05、2.1-2.25倍電容元件額定電壓的直流電，對(duì)應(yīng)運(yùn)行時(shí)間為12-15h、13-15h、7-9h、3-5h、4-6h、3-5h；

步驟四，統(tǒng)計(jì)電容元件擊穿數(shù)量，電容元件擊穿數(shù)量小于抽樣電容元件三分之一，則壽命試驗(yàn)合格。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟三中，給抽樣電容元件依次施加1.2、1.4、1.6倍電容元件額定電壓的交流電，然后再依次施加1.8、2.0、2.2倍電容元件額定電壓的直流電，對(duì)應(yīng)運(yùn)行時(shí)間為13h、14h、8h、4h、5h、4.5h。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟三中，給抽樣電容元件依次施加1.1、1.3、1.5倍電容元件額定電壓的交流電，然后再依次施加1.7、1.9、2.1倍的電容元件額定電壓的直流電，對(duì)應(yīng)運(yùn)行時(shí)間為12h、15?h、7?h、3?h、4?h、5?h。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟三中，給抽樣電容元件依次施加1.?25、1.?45、1.?65倍電容元件額定電壓的交流電，然后再依次施加1.85、2.05、2.25倍的電容元件額定電壓的直流電，對(duì)應(yīng)運(yùn)行時(shí)間為15h、13?h、9?h、5?h、6?h、3?h。

5.一種如權(quán)利要求1所述的節(jié)能電容元件壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟二中，烘箱溫度為50℃。