[發(fā)明專利]一種OCT圖像的校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510279893.2
• 申請(qǐng)日: 2015-05-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104899837B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮東亮;郭曙光;朱曉湘
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市莫廷影像技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06T5/00
• 分類號(hào): G06T5/00;G01B11/24
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種OCT圖像的校正方法,其特征在于，包括如下步驟：

OCT系統(tǒng)的掃描單元掃描樣品，得到OCT圖像，確定出至少包括有第一掃描半徑R和第一振動(dòng)角度α1的若干參數(shù)；

調(diào)整所述掃描單元的掃描線角度，分別在水平方向和垂直方向掃描樣品，求出長(zhǎng)軸2a和短軸2b，構(gòu)建出橢圓公式

定義掃描單元的掃描線在任意掃描角度θ時(shí)的第二掃描半徑為2c,根據(jù)橢圓公式求得掃描距離c和第二振動(dòng)角度α2；

利用所述掃描距離c和所述第二振動(dòng)角度α2將在任意掃描角度θ掃描樣品得到的OCT圖像還原成被掃描樣品真實(shí)的形狀；

其中，θ為掃描單元的掃描線和水平方向構(gòu)成的夾角，為已知值；所述第二振動(dòng)角度α2根據(jù)公式R*sin((α1)/2)＝2c*sin((α2)/2)求得。

2.如權(quán)利要求1所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于，所述若干參數(shù)還包括OCT圖像頂端寬度w，根據(jù)公式w＝R*sin((α1)/2)*2求得。

3.如權(quán)利要求2所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述R＝H1+H3；其中，H1為所述OCT圖像頂端到被掃描樣品處于第一位置時(shí)的距離，H3為所述第一位置到所述掃描單元的中心位置o的距離。

4.如權(quán)利要求3所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述H1＝h1*ratio_h；其中，h1為所述OCT圖像頂端到所述第一位置的像素距離；ratio_h為實(shí)際距離和像素的比例關(guān)系，ratio_h＝dist/(h2-h1)；dist為所述樣品由所述第一位置沿著掃描單元的中心位置o移動(dòng)到第二位置的距離，h2為所述OCT圖像頂端到所述第二位置的像素距離；h1和h2通過(guò)對(duì)所述OCT圖像進(jìn)行邊界檢測(cè)得到；所述OCT圖像的橫向像素?cái)?shù)定義為W,縱向像素?cái)?shù)定義為H。

5.如權(quán)利要求4所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：(α1)/2＝arctan((up_w–low_w)/2/dist)，H3＝2*tan((α1)/2)/up_w；

其中，up_w為所述樣品處于所述第一位置時(shí)，所述掃描單元掃描所述樣品的范圍；low_w為所述樣品處于所述第二位置時(shí)，所述掃描單元掃描所述樣品的范圍。

6.如權(quán)利要求5所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述樣品分別處于所述第一位置和所述第二位置時(shí)，所述掃描單元掃描所述樣品，得到第一OCT圖像和第二OCT圖像；所述第一OCT圖像和所述第二OCT圖像的橫向像素?cái)?shù)為所述W,縱向像素?cái)?shù)為所述H。

7.如權(quán)利要求4所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述若干參數(shù)還包括掃描單元的探測(cè)深度h，h＝ratio_h*H。

8.如權(quán)利要求4-5中任一項(xiàng)所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述樣品設(shè)置在一夾具上，通過(guò)移動(dòng)夾具實(shí)現(xiàn)所述樣品由所述第一位置移動(dòng)到所述第二位置。

9.如權(quán)利要求5所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述up_w和所述low_w的值通過(guò)距離測(cè)量裝置讀出；所述距離測(cè)量裝置暴露在所述OCT圖像中。

10.如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述樣品為條塊狀玻璃片。

11.如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的OCT圖像的校正方法,其特征在于：所述掃描單元為X-Y振鏡。