[發明專利]電容檢測電路、觸摸檢測電路和具備該電路的半導體集成電路有效
| 申請號： | 201510272798.X | 申請日： | 2015-05-26 |
| 公開（公告）號： | CN105183248B | 公開（公告）日： | 2020-03-31 |
| 發明（設計）人： | 能登隆行 | 申請（專利權）人： | 辛納普蒂克斯日本合同會社 |
| 主分類號： | G06F3/044 | 分類號： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 張濤;陳嵐 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電容 檢測 電路 觸摸 具備 半導體 集成電路 | ||
1.一種電容檢測電路，包括：
第一運算放大器；
積分電容，其在所述第一運算放大器的第一輸入端子與所述第一運算放大器的輸出端子之間以能夠使連接方向反轉的方式進行連接；以及
輸入開關，其連接在傳感器電容與所述第一運算放大器的所述第一輸入端子之間，
其中，根據對所述傳感器電容進行充放電的電荷的移動方向，使相加到所述積分電容的所述電荷的極性反轉。
2.根據權利要求1所述的電容檢測電路，其中，每當使相加到所述積分電容的電荷的極性反轉的動作重復進行時，都使所述積分電容短路以及初始化。
3.根據權利要求2所述的電容檢測電路，還包括具備開關電容器的IIR濾波器，
其中，每當使相加到所述積分電容的電荷的極性反轉的動作重復進行時，都將所述積分電容蓄積的電荷供給至所述IIR濾波器，并使所述積分電容短路以及初始化。
4.一種觸摸檢測電路，包括多個根據權利要求1所述的電容檢測電路，
其中，所述多個電容檢測電路能夠與配置在觸摸面板上的多個傳感器電容連接。
5.一種半導體集成電路，包括：
半導體基板；以及
在所述半導體基板上設置根據權利要求4所述的觸摸檢測電路。
6.根據權利要求5所述的半導體集成電路，還包括在所述半導體基板上設置的顯示驅動電路，
其中，該顯示驅動電路被配置成對顯示面板進行驅動和控制，所述顯示面板包括所述觸摸面板。
7.一種能夠與傳感器電容連接的電容檢測電路，包括：
第一運算放大器；
積分電容，其在所述第一運算放大器的第一輸入端子與所述第一運算放大器的輸出端子之間以能夠使連接方向反轉的方式進行連接；以及
輸入開關，其連接在所述傳感器電容與所述第一運算放大器的所述第一輸入端子之間，
其中，重復進行初始化期間、第一期間以及第二期間，
其中，在該初始化期間，將所述傳感器電容充電到初始電位，并將所述積分電容短路以及初始化，
其中，在所述初始化期間之后關閉所述輸入開關，
其中，在該第一期間，對所述第一運算放大器的第二輸入端子施加與所述初始電位相比更高的第一電位，以及
其中，在該第二期間，對所述第一運算放大器的所述第二輸入端子施加與所述初始電位相比更低的第二電位且所述積分電容的連接方向相較于所述第一期間時進行了反轉。
8.根據權利要求7所述的電容檢測電路，還包括：IIR濾波器，該IIR濾波器經由采樣保持電路與所述第一運算放大器的輸出端子連接，
其中，每次重新進行所述第一期間和所述第二期間時都設置所述初始化期間，以及
其中，在所述初始化期間，將所述第一運算放大器的輸出經由所述采樣保持電路傳送至所述IIR濾波器。
9.一種觸摸檢測電路，其包括多個根據權利要求7所述的電容檢測電路，
其中，所述多個所述電容檢測電路能夠與配置在觸摸面板上的多個傳感器電容連接。
10.一種半導體集成電路，包括：
半導體基板；以及
在所述半導體基板上設置的根據權利要求9所述的觸摸檢測電路。
11.根據權利要求10所述的半導體集成電路，還包括：在所述半導體基板上的顯示驅動電路，
其中，該顯示驅動電路被配置成對顯示面板進行驅動和控制，所述顯示面板包括所述觸摸面板。
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