[發明專利]一種射頻發生器的控制電路與檢測系統

有效

• 申請號: 201510272236.5
• 申請日: 2015-05-25
• 公開（公告）號: CN104849598B
• 公開（公告）日: 2018-04-10
• 發明（設計）人: 陳波;張松柏
• 申請（專利權）人: 上海美諾福科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 王術蘭

技術領域

本發明涉及儀器控制及維修領域，具體而言，涉及一種射頻發生器的控制電路與檢測系統。

背景技術

目前，一些精密分析儀器中包含射頻發生器，如ICP(Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer，電感耦合等離子光譜發生儀)中就包含射頻發生器。由于射頻發生器非常昂貴，所以當ICP發生故障時，首先需要控制射頻發生器進行作業，以根據其作業情況確定射頻發生器是否出現故障。

當前，相關技術中提供了一種對射頻發生器進行檢測的方法，包括：將ICP連接到終端、單片機和服務器等控制設備上，通過這些控制設備為ICP中的射頻發生器提供功率和電流等作業條件，該射頻發生器啟動進行作業。然后獲取該射頻發生器作業產生的波形等作業信息，將獲取的作業信息與正常作業信息進行比較，若該作業信息與正常作業信息相同，則確定該射頻發生器沒有出現故障，否則，確定該射頻發生器出現故障。

在實現本發明的過程中，發明人發現相關技術中至少存在以下問題：

由于將ICP整個連接到控制設備上，該射頻發生器的功率和電流可能超過ICP中其他部件的安全功率和安全電流，從而導致ICP中其他部件損毀。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例的目的在于提供一種一種射頻發生器的控制電路與檢測系統，實現了對射頻發生器單獨進行檢測，避免損壞精密儀器中的其他部件。

第一方面，本發明實施例提供了一種射頻發生器的控制電路，所述控制電路包括：連接器、條件生成電路和電源模塊；

所述電源模塊與所述條件生成電路電連接，為所述條件生成電路提供設定的電壓；

所述條件生成電路通過所述連接器與射頻發生器連接，為所述射頻發生器提供作業條件。

結合第一方面，本發明實施例提供了第一方面的第一種可能的實現方式，其中，所述連接器的輸入端和輸出端分別至少包括如下五個引腳：

第一繼電器引腳、第二繼電器引腳、電壓偏壓控制的引腳、數字接地的引腳和電源接地的引腳；

其中，所述連接器的輸入端的五個引腳分別與所述條件生成電路的對應節點連接；

所述連接器的輸出端的五個引腳分別與所述射頻發生器的對應引腳連接。

結合第一方面，本發明實施例提供了第一方面的第二種可能的實現方式，其中，所述條件生成電路包括偏壓控制模塊、第一中繼模塊、第二中繼模塊和點火模塊；

所述偏壓控制模塊的一端與所述電源模塊連接，所述偏壓控制模塊的另一端與所述連接器的輸入端包括的電壓偏壓控制的引腳連接；

所述第一中繼模塊的一端與地線連接，所述第一中繼模塊的另一端與所述連接器的輸入端包括的第一繼電器引腳連接；

所述第二中繼模塊的一端與所述電源模塊連接，所述第二中繼模塊的另一端與所述連接器的輸入端包括的第二繼電器引腳連接；

所述點火模塊的一端與所述電源模塊連接，所述點火模塊的另一端與所述連接器的輸入端包括的數字接地的引腳連接。

結合第一方面的第二種可能的實現方式，本發明實施例提供了第一方面的第三種可能的實現方式，其中，所述偏壓控制模塊包括第一開關、第一電阻和第一電位器；

所述第一電阻的一端與所述電源模塊及所述點火模塊連接，所述第一電阻的另一端與所述第一開關的一端以及所述第一電位器的一端連接；

所述第一開關的另一端與所述電壓偏壓控制的引腳連接；

所述第一電位器的另一端與地線連接。

結合第一方面的第二種可能的實現方式，本發明實施例提供了第一方面的第四種可能的實現方式，其中，所述第一中繼模塊包括第二開關；

所述第二開關的一端與地線連接，所述第二開關的另一端與所述第一繼電器引腳連接。

結合第一方面的第二種可能的實現方式，本發明實施例提供了第一方面的第五種可能的實現方式，其中，所述第二中繼模塊包括第三開關和第二電阻；

所述第三開關的一端與所述第二電阻的一端連接，所述第三開關的另一端與所述第二繼電器引腳連接；

所述第二電阻的另一端與所述電源模塊連接。

結合第一方面的第二種可能的實現方式，本發明實施例提供了第一方面的第六種可能的實現方式，其中，所述點火模塊包括第四開關、第三電阻和第二電位器；

所述第三電阻的一端與所述電源模塊及所述偏壓控制模塊連接，所述第三電阻的另一端與所述第四開關的一端以及所述第二電位器的一端連接；

所述第四開關的另一端與所述數字接地的引腳連接；