[發(fā)明專利]一種基于圖像處理的垂測電離圖E區(qū)描跡自動判讀方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510271515.X | 申請日： | 2015-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN106295663B | 公開（公告）日： | 2019-05-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 鄭海永;孫曉慶;盧紅光;何紹紅;姬光榮 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國海洋大學 |
| 主分類號： | G06K9/54 | 分類號： | G06K9/54 |
| 代理公司： | 北京立成智業(yè)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11310 | 代理人： | 張江涵 |
| 地址： | 266100 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 圖像 處理 電離 區(qū)描跡 自動 判讀 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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