[發明專利]一種防止BGA IC虛焊的底部填充方法在審
| 申請號: | 201510255064.0 | 申請日: | 2015-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN104979225A | 公開(公告)日: | 2015-10-14 |
| 發明(設計)人: | 王小青;周洪貴 | 申請(專利權)人: | 深圳創維-RGB電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H01L21/66 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
| 地址: | 518052 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 防止 bga ic 底部 填充 方法 | ||
技術領域
本發明涉及BGA制作領域,尤其涉及一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法。
背景技術
隨著平板電視功能的不斷增強,BGA(Ball?Grid?Array,球柵陣列結構的PCB)?IC的管腳數量也越來越多,功耗和發熱量也不斷增加,BGA?IC對生產、轉運和運輸過程的要求也不斷提升。同時,由于電視的普及率較高,消費者對電視的質量要求也越來越高。
現有技術中,預防平板電視BGA?IC虛焊,比較常用的方法為在散熱片上增加兩個定位柱來牽引,防止PCB板變形來預防虛焊。此方法為定位柱與PCB板焊接固定,在一定程度上可以防止因板材變形而造成的焊點虛焊,但是兩點并不能控制一個面的變形,所以不能控制PCB板其他方向的變形;且增加兩個定位柱要在板上留有相應的焊盤位置,使PCB板設計復雜,板材面積也要相應增加。
因此,現有技術還有待于改進和發展。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,旨在解決現有的防止虛焊方法效果不佳、設計復雜等問題。
本發明的技術方案如下:
一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,包括步驟:
將IC焊接在PCB板上,并通過檢測確保IC未產生虛焊;
利用毛細管作用和點膠設備將填充膠填充至IC與PCBA間的空隙,使IC與PCBA連成一體。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,在進行填充時,采用L形點膠軌跡。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,所述點膠設備為噴射式點膠設備。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,在所述填充膠前先將所述填充膠在常溫下解凍2~4小時。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,所述填充膠為環氧樹脂類填充膠。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,所述環氧樹脂類填充膠,按質量百分比計,包括:
環氧樹脂???60%~70%
稀釋劑?????10%~30%
固化劑?????5%~10%
助劑???????1%~3%
色料???????0.1%~1%。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,在填充之后,進行固化處理。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,所述固化處理為在100~150℃的溫度條件下,烘干5~20分鐘。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,在利用點膠設備進行填充時,點膠速度為20~50mm/s,噴射閥壓力為100~120psi,膠管內氣壓為16~20psi。
所述的防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,其中,在利用點膠設備進行填充時,開閥時間和關閥時間為6~8ms。
有益效果:本發明通過膠水填充的方式使IC與PCBA連成一體,可增強IC抵抗機械應力,同時排除IC與PCBA之間的空隙,且膠水導熱率遠大于空氣,可明顯改善IC的熱應力,可實現機芯板小型化。并且使用底部填充方法,不占用PCB排布空間,可以實現線體流水作業,不影響焊接流程;使用噴射式點膠方式,可以有效提升生產效率。此外,通過底部填充方法還可以提前檢測虛焊,防止不良品流入后續工序。
附圖說明
圖1為本發明一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法較佳實施例的流程圖。
具體實施方式
本發明提供一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法,為使本發明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確,以下對本發明進一步詳細說明。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明,并不用于限定本發明。
請參閱圖1,圖1為本發明所提供的一種防止BGA?IC虛焊的底部填充方法較佳實施例的流程圖,如圖所示,其包括步驟:
S101、在SMT設備上將IC焊接在PCB板上,并通過檢測確保IC未產生虛焊;
S102、利用毛細管作用和點膠設備將填充膠填充至IC與PCBA間的空隙,使IC與PCBA連成一體。
本發明的底部填充方法,解決了BGA?IC的虛焊隱患問題,可防止不良品留入下道工序及市場,降低返修率和返修成本。
具體來說,首先將機芯板上的BGA?IC在SMT線體貼片完成,然后進行常規焊接質量檢測,以確保IC未產生虛焊。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





