[發(fā)明專利]一種芯片字符識別與校驗方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510217220.4
• 申請日: 2015-04-29
• 公開（公告）號: CN104881665B
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊華;尹周平;胡洋
• 申請（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號: G06K9/34
• 分類號: G06K9/34
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 曹葆青

1.一種芯片字符識別方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)芯片字符圖像獲取及預(yù)處理：獲取芯片字符圖像，并處理成二值化圖像；

(2)芯片字符分割：

(2-1)行分割：對于步驟(1)中獲得的二值化圖像進(jìn)行逐行掃描，統(tǒng)計圖像每一行中的白色像素點(diǎn)的個數(shù)，將其中白色像素點(diǎn)的個數(shù)超過預(yù)設(shè)行間閾值的連續(xù)的行作為一個字符行；

(2-2)列分割：對有步驟(2-1)中獲得的每一個字符行進(jìn)行逐列掃描，統(tǒng)計字符行每一列中的白色像素點(diǎn)的個數(shù)，將白色像素點(diǎn)的個數(shù)超過預(yù)設(shè)字間閾值的連續(xù)的列作為一個預(yù)字符圖像；

(2-3)字符分割：對于步驟(2-2)中獲得的每一個預(yù)字符圖像，統(tǒng)計其列數(shù)，將列數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)字符列數(shù)范圍之內(nèi)的預(yù)字符圖像作為單個字符圖像；將列數(shù)低于標(biāo)準(zhǔn)字符列數(shù)范圍下限的預(yù)字符圖像，按照從左到右的順序依次合并，直至其合并后字符圖像的列數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)字符列數(shù)范圍之內(nèi)，則合并后的字符圖像作為單個字符圖像；將列數(shù)高于標(biāo)準(zhǔn)字符列數(shù)范圍上限的預(yù)字符圖像，根據(jù)預(yù)設(shè)的字符間閾值拆分，直至每個拆分后的每一個字符圖像的列數(shù)在標(biāo)準(zhǔn)字符列數(shù)范圍之內(nèi)，將拆分后的每一個字符圖像作為單個字符圖像；

(3)芯片字符識別校驗：將步驟(2)中獲得的單個字符圖像分別識別成單個字符，將字符組合成字符串；所述步驟(3)包括以下子步驟：

(3-1)歸一化處理：將步驟(2)中獲得的單個字符圖像，采用鄰近差值法，保持字符長寬比不變，縮放為統(tǒng)一大小的歸一化字符圖像；

(3-2)機(jī)器學(xué)習(xí)識別：采用模式識別的方法，以字符的網(wǎng)格特征和幾何矩特征為模型特征，進(jìn)行模式識別，將步驟(3-1)中獲得的歸一化字符圖像識別為字符；

(3-3)組合：將步驟(3-2)中的字符按照其自負(fù)圖像的初始位置組合成字符串。

2.如權(quán)利要求1所述芯片字符識別方法，其特征在于，所述步驟(1)包括以下子步驟：

(1-1)芯片圖像獲?。簩⑴臄z得到的芯片圖像進(jìn)行濾波處理得到濾波后的圖像；

(1-2)圖像二值化處理：采用基于分塊的大津法，對步驟(1-1)中濾波后的圖像進(jìn)行二值化，得到二值化圖像。

3.一種芯片字符校驗方法，其特征在于，應(yīng)用如權(quán)利要求1至2所述的芯片字符識別方法，將芯片字符識別成字符串后，與預(yù)設(shè)的字符串進(jìn)行比較，得到校驗結(jié)果。

4.一種應(yīng)用如權(quán)利要求3所述的芯片字符校驗方法的裝置，其特征在于，包括照明裝置(1)、芯片承載臺(2)、圖像采集裝置(3)、圖像處理裝置(4)、以及報警裝置(5)；

所述芯片承載臺(2)，用于批量承載芯片，并按照芯片放置順序相對于圖像采集裝置移動；

所述照明裝置(1)，設(shè)置在芯片承載臺(2)與圖像采集裝置(3)之間；

所述圖像采集裝置(3)，設(shè)置與芯片承載臺(2)待成像芯片正上方，用于對待成像芯片成像，并將圖像數(shù)據(jù)傳遞給圖像處理裝置(4)；

所述圖像處理裝置(4)，用于存儲標(biāo)準(zhǔn)字符串，接收芯片圖像數(shù)據(jù)，并按照權(quán)利要求3所述的芯片字符校驗方法進(jìn)行校驗，將錯誤結(jié)果輸出給報警裝置(5)；

所述報警裝置(5)，與圖像處理裝置(4)數(shù)據(jù)連接，用于提示校驗出錯的芯片。

5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述照明裝置(1)為環(huán)形光，設(shè)置與芯片承載臺(2)待成像芯片的正上方。