[發明專利]一種Spectralon漫反射板校正方法

有效

• 申請號: 201510200904.3
• 申請日: 2015-04-24
• 公開（公告）號: CN104807616B
• 公開（公告）日: 2017-06-16
• 發明（設計）人: 方慧;張昭;張暢;杜朋朋;劉飛;何勇
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 杭州天勤知識產權代理有限公司33224
• 代理人: 胡紅娟

1.一種Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)光源從不同天頂角照射Spectralon漫反射板，利用光譜儀從不同天頂角和方位角采集相應的反射光譜數據；

2)從所述反射光譜數據內截取有效波段范圍內的光譜數據，并求平均值，剔除差異相對較大的光譜數據；

3)對剩余的光譜數據求殘差平方和Rss，確定最穩定的探測器接受天頂角θ_r,degree的值，并建立任意探測器接受天頂角θ_r與θ_r,degree的關系表達式；

4)將關系表達式代入Spectralon漫反射板的BRDF表達式，完成Spectralon漫反射板校正。

2.如權利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，在步驟1)中，控制光源的方位角為0°，天頂角依次設置為0°、10°、30°和45°，利用探測器在光源各天頂角處進行逐一采集，天頂角從0°～70°每隔10°采集，方位角從0°～360°每隔10°采集。

3.如權利要求2所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，關閉光源，控制探測器再次以同等的天頂角和方位角采集相應的環境光譜數據，并將光源下采集的原始光譜數據與環境光譜數據做差值處理，得到步驟1)中的反射光譜數據。

4.如權利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，所述的有效波段范圍為可見光和近紅外光波段。

5.如權利要求1所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，在步驟2)中，根據探測器天頂角的采集間隔對光譜數據進行分組，計算每組光譜數據的平均值，并對光譜數據進行二次剔除處理。

6.如權利要求5所述的Spectralon漫反射板校正方法，其特征在于，所述的二次剔除處理為：利用公式(1)對光譜數據進行初步剔除，剩余的光譜數據求平均值，再利用公式(2)對剩余的光譜數據進行再次剔除處理；

$|100\×\frac{L_{n1}(i,j)-M_{n1}(i,j)}{M_{n1}(i,j)}|\<25---\left(1\right)$

$|100\×\frac{L_{n2}(i,j)-M_{n2}(i,j)}{M_{n2}(i,j)}|\<15---\left(2\right)$

式中，L，M分別為各組內的原始光譜數據和對應的光譜數據平均值，n代表依據探測器天頂角所分組值，L_n1、M_n1分別為第一次各組內的原始光譜數據和光譜數據平均值矩陣，L_n2、M_n2分別為第二次各組內的原始光譜數據和光譜數據平均值矩陣，i，j分別為方位角數值和波長。