[發(fā)明專利]用于檢測(cè)發(fā)電機(jī)中的冷卻劑泄漏的方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510168805.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-04-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104977138B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | J.J.徐;J.J.格蘭特;M.C.比約克隆;J.W.克拉克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號(hào): | G01M3/20 | 分類號(hào): | G01M3/20 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 嚴(yán)志軍;肖日松 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測(cè) 發(fā)電機(jī) 中的 冷卻劑 泄漏 方法 系統(tǒng) | ||
提供了一種用于檢測(cè)發(fā)電機(jī)中的氣體泄漏的系統(tǒng)和方法。系統(tǒng)包括非腐蝕性示蹤氣體源,和用于將非腐蝕性示蹤氣體引入到氫冷發(fā)電機(jī)中的子系統(tǒng)。紅外線成像裝置適合于與通告裝置通信,以顯示氫冷發(fā)電機(jī)的至少一部分和非腐蝕性示蹤氣體的圖像。紅外線成像裝置包括冷卻檢測(cè)器和濾波器,該濾波器具有在大約3μm至大約5μm之間的光譜響應(yīng)。檢測(cè)器和/或?yàn)V波器冷卻至大約?80oC至大約?200oC之間。氣體泄漏將在通告裝置上指示。發(fā)電機(jī)可為氫氣冷卻的,并且是在線或在網(wǎng)的。
技術(shù)領(lǐng)域
本文公開(kāi)的主題大體涉及泄漏的檢測(cè),并且更具體地說(shuō)涉及氫冷發(fā)電機(jī)中的冷卻劑泄漏的在線檢測(cè)。
背景技術(shù)
大型發(fā)電機(jī)典型地利用輕密度氣體冷卻。氫(H2)由于其合乎需要的熱物理特性而已經(jīng)廣泛用作冷卻劑,該熱物理特性包括當(dāng)與其它冷卻氣體選擇相比時(shí)低的風(fēng)阻摩擦、高的散熱能力和對(duì)電暈放電的高電阻。另外,H2具有可容易得到且廉價(jià)的優(yōu)點(diǎn)。
H2的泄漏可阻止發(fā)電機(jī)有效操作,并且在某些情況下可產(chǎn)生發(fā)電停機(jī)。在發(fā)電機(jī)周?chē)赡馨l(fā)生H2泄漏的區(qū)域之中的是在定子外殼上的凸緣接頭,其包括高壓襯套、密封外殼和管凸緣。泄漏還可發(fā)生在冷卻器、焊縫、螺栓頭和端罩的界面周?chē)M舛苏种械妮S承包封、轉(zhuǎn)子端子包裝、集電器組件以及為了儀器配線穿透而制成的壓蓋也可易于泄漏。其它氣密性過(guò)渡和焊接接頭以及密封油排泄系統(tǒng)、氣體管道和氫箱可為泄漏源。如果發(fā)電機(jī)是水冷發(fā)電機(jī),則定子液體冷卻的繞組也可為泄漏源。
H2泄漏是難以檢測(cè)的,因?yàn)镠2是無(wú)色無(wú)味的,分子結(jié)構(gòu)對(duì)稱的,并且由于其低密度,故當(dāng)其泄漏到大氣中時(shí),其快速地消散。監(jiān)測(cè)和檢測(cè)潛在的H2泄漏的技術(shù)挑戰(zhàn)在于識(shí)別渦輪發(fā)電機(jī)中的H2泄漏的精確位置,尤其在難以接近且空間有限的區(qū)域中。典型地,當(dāng)發(fā)電機(jī)開(kāi)始消耗比平常更多的氫時(shí),指示氫泄漏。在該情況下,操作員意識(shí)到泄漏存在,但泄漏的位置是未知的。
常規(guī)的渦輪發(fā)電機(jī)泄漏檢測(cè)方法需要渦輪發(fā)電機(jī)離網(wǎng)或離線進(jìn)行空氣凈化,并且之后將其帶到高達(dá)正常操作壓力。接著,使用待審查的區(qū)域的長(zhǎng)的檢查列表和逐步消除方法。各個(gè)測(cè)試循環(huán)需要監(jiān)測(cè)至少24小時(shí)。如果泄漏高于推薦值,則使用各種泄漏檢測(cè)的方法。
例如,可使用肥皂水或相似的洗滌劑溶液執(zhí)行氣泡測(cè)試,其施加于可能泄漏的所有可接近的區(qū)域上面。另一途徑是使用鹵素泄漏檢測(cè)器,其設(shè)計(jì)用于檢測(cè)加壓系統(tǒng)中的泄漏,其中鹵素化合物氣體(如二氯二氟甲烷12)用作示蹤氣體以檢查泄漏。接著利用嗅探器探針掃描系統(tǒng)的外部,該嗅探器探針對(duì)鹵素-承載氣體的痕跡是敏感的。原理基于增加的陽(yáng)離子(K或Na)排放,因?yàn)橥蝗淮嬖邴u化物成分。
所有泄漏檢測(cè)的常規(guī)方法需要檢測(cè)器緊鄰泄漏源,并且花費(fèi)相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間去實(shí)施。大多數(shù)常規(guī)方法使用接近或靠近接觸“嗅探器”技術(shù)和探針。這些方法是辛苦費(fèi)時(shí)的,并且在某些情況下錯(cuò)失了氣體泄漏,如果它們發(fā)生來(lái)自內(nèi)部密封的破裂。如果難以接近的H2密封系統(tǒng)或受約束空間是可能的泄漏源,則可需要相當(dāng)大的努力來(lái)拆卸渦輪發(fā)電機(jī),通常導(dǎo)致日程延遲好幾天。當(dāng)渦輪發(fā)電機(jī)被迫離線時(shí),動(dòng)力生產(chǎn)者已經(jīng)報(bào)告了接近每天操作收入的$1MM損失的價(jià)值。
長(zhǎng)波氣體檢測(cè)照相機(jī)(10-11μm的檢測(cè)器響應(yīng))已經(jīng)用于電氣分配工業(yè),以檢測(cè)來(lái)自高壓開(kāi)關(guān)裝置和變壓器的六氟化硫(SF6)的泄漏。目前已經(jīng)提出了結(jié)合背面散射/吸收技術(shù)使用SF6作為在發(fā)電廠發(fā)電機(jī)中尋找H2泄漏的示蹤氣體。背面散射/吸收泄漏檢測(cè)過(guò)程使用主動(dòng)掃描激光器來(lái)提供定向的能量源以照射目標(biāo)區(qū)域。激光束反射回源照相機(jī),其調(diào)諧至特定的頻帶。SF6具有高的親合力,以吸收該能量頻率,并且在照相機(jī)監(jiān)測(cè)器上看起來(lái)像黑云。照相機(jī)監(jiān)測(cè)器通過(guò)示蹤氣體云的尺寸和暗度提供了泄漏有多嚴(yán)重的直接指示。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于通用電氣公司,未經(jīng)通用電氣公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510168805.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M3-00 結(jié)構(gòu)部件的流體密封性的測(cè)試
G01M3-02 .應(yīng)用流體或真空
G01M3-38 .應(yīng)用光照
G01M3-40 .應(yīng)用電裝置,例如,觀察放電現(xiàn)象
G01M3-04 ..通過(guò)在漏泄點(diǎn)檢測(cè)流體的出現(xiàn)
G01M3-26 ..通過(guò)測(cè)量流體的增減速率,例如,用壓力響應(yīng)裝置,用流量計(jì)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





