[發明專利]產生特征化掃描樣本的方法與裝置

有效

• 申請號: 201510095960.5
• 申請日: 2015-03-04
• 公開（公告）號: CN104898042B
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 陳海力;郭士華;董志圣
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3183
• 分類號: G01R31/3183
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 王濤

1.一種產生用于掃描測試的一特征化掃描樣本的方法，其特征在于，所述的方法包含：

提供多個預定掃描樣本，以在壓力環境下對多個待測裝置進行掃描測試，產生對應于每一個待測裝置的多個測試響應，其中，所述壓力環境包括以低于待測裝置本身額定電壓的電壓來運作待測裝置，或者以高于待測裝置本身最高操作頻率的頻率來運作待測裝置；

從每個待測裝置的多個測試響應中，將每個待測裝置的多個特定測試響應集合，決定每個待測裝置的多個錯誤特征所對應的特征值；以及

根據每個待測裝置的特征值，產生至少一特征化掃描樣本。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，決定每個待測裝置的所述多個錯誤特征所對應的特征值的步驟包含：

計算每個待測裝置的所述多個特定測試響應對應的一錯誤數量，作為所述待測裝置的一特征值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述的方法另包含：

判定每一個待測裝置為通過系統等級測試或者是未通過系統等級測試；以及

根據每個待測裝置的特征值，產生所述至少一特征化掃描樣本的步驟包含：

對判定為通過系統等級測試的待測裝置以及判定為未通過系統等級測試的待測裝置的特征錯誤數量進行異常值分析，決定一分離條件；以及

根據所述分離條件產生至少一特征化掃描樣本。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在壓力環境下對所述多個待測裝置進行掃描測試，產生對應于每一個待測裝置的多個測試響應的步驟包含：

當在所述多個待測裝置的其中之一的一特定掃描輸出端上檢測到一錯誤測試響應時，持續對所述待測裝置進行掃描測試。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，每個待測裝置的所述多個特定測試響應對應于所述待測裝置的至少一掃描輸出端。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，每個待測裝置的所述多個特定測試響對應于所述待測裝置的至少一特定掃描輸出周期。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，每個待測裝置的所述多個特定測試響對應于所述待測裝置的至少一特定預定掃描樣本。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個預定掃描樣本使用所述多個待測裝置的內部時鐘。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，待測裝置為一多核心處理器的一核心。

10.一種產生用于掃描測試的一特征化掃描樣本的裝置，其特征在于，所述的裝置包含：

一測試設備，用于根據多個預定掃描樣本，在壓力環境下對多個待測裝置進行掃描測試，產生每個待測裝置的多個測試響應，其中，所述壓力環境包括以低于待測裝置本身額定電壓的電壓來運作待測裝置，或以高于待測裝置本身最高操作頻率的頻率來運作待測裝置；

一特征決定模塊，耦接于所述測試設備，用于從每個待測裝置的所述多個測試響應中，將每個待測裝置的多個特定測試響應集合，決定每個待測裝置的多個錯誤特征所對應的特征值；以及

一特征化掃描樣本產生模塊，耦接于所述特征決定模塊，用于根據每個待測裝置的特征值，產生至少一特征化掃描樣本。

11.根據權利要求10所述的裝置，其特征在于，所述特征決定模塊用于計算每個待測裝置的所述多個特定測試響應對應的一錯誤數量，作為所述待測裝置的一特征值。

12.根據權利要求11所述的裝置，其特征在于，所述待測裝置判定每一個待測裝置為通過系統等級測試或者是未通過系統等級測試，并且所述特征決定模塊對判定為通過系統等級測試的待測裝置以及判定為未通過系統等級測試的待測裝置的特征錯誤數量進行異常值分析，決定一分離條件，而所述特征化掃描樣本產生模塊用于根據所述分離條件產生所述至少一特征化掃描樣本。

13.根據權利要求10所述的裝置，其特征在于，當在所述多個待測裝置其中之一的一特定掃描輸出端上檢測到一錯誤測試響應時，所述測試設備持續對所述待測裝置進行掃描測試。

14.根據權利要求10所述的裝置，其特征在于，每個待測裝置的所述多個特定測試響應對應于所述待測裝置的至少一掃描輸出端。