[發明專利]基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統及方法有效
| 申請號: | 201510095205.7 | 申請日: | 2015-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN104635035B | 公開(公告)日: | 2017-11-10 |
| 發明(設計)人: | 王麗明;王聞浩;蘇芹;郭勝濤 | 申請(專利權)人: | 上海創遠儀器技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R21/00 | 分類號: | G01R21/00;G01R35/00 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司31002 | 代理人: | 王潔,鄭暄 |
| 地址: | 200233 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 分塊 結構 實現 信號源 功率 快速 校準 系統 方法 | ||
1.一種基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統,其特征在于,所述的系統包括信號源、第一功率計和第二功率計,其中
所述的信號源分別連接所述的第一功率計和所述的第二功率計,用以根據設定的目標頻率、目標功率、所述的第一功率計測量得到的自動電平控制數據和所述的第二功率計測量得到的鏈路增益數據對所述的信號源進行自動電平控制校準和鏈路增益校準;
所述的第一功率計,用以測量得到所述的信號源的自動電平控制數據;
所述的第二功率計,用以測量得到所述的信號源的鏈路增益數據;
所述的基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統實現基于分塊式結構的信號源功率快速校準的處理操作,包括以下步驟:
(1)所述的信號源確定當前的目標頻率和目標功率;
(2)所述的第一功率計測量得到所述的信號源的自動電平控制數據;
(3)所述的信號源讀取所述的自動電平控制數據并進行自動電平控制校準;
(4)所述的信號源確定當前的目標頻率及其相應的目標功率和目標檢波電壓;
(5)所述的第二功率計測量得到所述的信號源的鏈路增益數據;
(6)所述的信號源讀取所述的鏈路增益數據并進行鏈路增益校準。
2.根據權利要求1所述的基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統,其特征在于,所述的信號源包括控制模塊、頻綜模塊、自動電平控制模塊和功率擴展模塊,其中:
所述的控制模塊的輸出端連接所述的頻綜模塊,用以設定所述的目標頻率和所述的目標功率,以及讀取所述的第一功率計測量得到的自動電平控制數據或所述的第二功率計測量得到的鏈路增益數據并存儲;
所述的頻綜模塊連接所述的自動電平控制模塊,用以根據所述的目標頻率和目標功率輸出相應的頻段;
所述的自動電平控制模塊連接所述的功率擴展模塊和所述的第一功率計的輸入端,所述的功率擴展模塊連接所述的第二功率計的輸入端,所述的第一功率計的輸出端和所述的第二功率計的輸出端分別連接所述的控制模塊的輸入端。
3.根據權利要求1所述的基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統,其特征在于,所述的信號源通過所述的第一功率計的探頭線將待測量信號發送至所述的第一功率計或所述的信號源通過所述的第二功率計的探頭線將待測量信號發送至所述的第二功率計,所述的信號源通過網口讀取所述的第一功率計的自動電平控制數據或所述的第二功率計的鏈路增益數據。
4.一種利用權利要求1至3中任一項所述的基于分塊式結構實現信號源功率快速校準的系統實現基于分塊式結構的信號源功率快速校準的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步驟:
(1)所述的信號源確定當前的目標頻率和目標功率;
(2)所述的第一功率計測量得到所述的信號源的自動電平控制數據;
(3)所述的信號源讀取所述的自動電平控制數據并進行自動電平控制校準;
(4)所述的信號源確定當前的目標頻率及其相應的目標功率和目標檢波電壓;
(5)所述的第二功率計測量得到所述的信號源的鏈路增益數據;
(6)所述的信號源讀取所述的鏈路增益數據并進行鏈路增益校準;
所述的信號源讀取所述的自動電平控制數據并進行自動電平控制校準,包括以下步驟:
(3.1)所述的信號源讀取所述的自動電平控制數據并計算所述的目標功率與所述的自動電平控制數據之差;
(3.2)所述的信號源判斷所述的目標功率與所述的自動電平控制數據之差是否滿足精度要求,如果是,則繼續步驟(3.3),否則繼續步驟(3.4);
(3.3)所述的信號源記錄當前的目標頻率、目標功率和信號源檢波電壓;
(3.4)所述的信號源更新所述的目標功率并返回上述步驟(2)。
5.根據權利要求4所述的實現基于分塊式結構的信號源功率快速校準的方法,其特征在于,所述的步驟(3)和(4)之間,還包括以下步驟:
(3.a)所述的信號源判斷是否還存在待測的頻率點,如果是,則繼續步驟(3.b),否則繼續步驟(4);
(3.b)所述的信號源將該待測的頻率點對應的值作為當前的目標頻率和確定當前的目標功率,并返回上述步驟(2)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海創遠儀器技術股份有限公司,未經上海創遠儀器技術股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510095205.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





