[發(fā)明專利]建立掃描測試架構(gòu)的方法和集成電路與電子裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510093374.7 | 申請日： | 2015-03-03 |
| 公開（公告）號： | CN105988080A | 公開（公告）日： | 2016-10-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 任建國 | 申請（專利權(quán)）人： | 聯(lián)發(fā)科技(新加坡)私人有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/3187 | 分類號： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 北京萬慧達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11111 | 代理人： | 白華勝 |
| 地址： | 新加坡啟匯城*** | 國省代碼： | 新加坡;SG |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 建立 掃描 測試 架構(gòu) 方法 集成電路 電子 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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