[發明專利]一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法

有效

• 申請號: 201510093312.6
• 申請日: 2015-03-02
• 公開（公告）號: CN104777785A
• 公開（公告）日: 2015-07-15
• 發明（設計）人: 向華;陳吉紅;周浩
• 申請（專利權）人: 華中科技大學;武漢華中數控股份有限公司;襄陽華中科技大學先進制造工程研究院
• 主分類號: G05B19/18
• 分類號: G05B19/18
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 李智

1.一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)設置采樣的加工狀態信息和加工程序指令序列信息，并相應配置形成加工信息動態采集界面，以實時同步顯示采樣的信息與指令對應的加工程序行；

(2)實時采集獲取實際加工數據，并利用正余弦算子對采集的數據進行迭代平滑處理，從而獲得平滑的信號，并提取濾波處理后信號的特征值；

(3)根據當前行加工的G指令和/或刀位軌跡類型在工藝系數數據庫中選擇確定優化系數；

(4)利用上述步驟獲取的特征值以及優化系數，建立優化模型，據此計算當前合理的工藝參數，從而實現對加工工藝參數的動態優化。

2.根據權利要求1所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，所述加工工藝參數為主軸進給速度，所述優化模型具體為：

其中，F_V表示修正后的進給修調，f_m表示修調極值即特征值，C_s是采集的當前主軸電流，C_m主軸額定電流，cof_修為優化系數。

3.根據權利要求1或2所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，所述迭代平滑處理具體為：

y(n)=Σi=-∞∞x(i)h(n-i)=x(n)*h(n)]]>

其中，N為采集的數據點個數，n為任一數據序號，為h(n)的初始相位角，y(n)為平滑處理后的信號。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，所述加工狀態信息包括機床各個軸的指令位置、實際位置、指令速度、實際速度、跟隨誤差、負載電流(或主軸電流)、以及系統變量和外部傳感器信息。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，所述迭代平滑處理的數據為主軸電流。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，還可以對優化后的工藝參數與當前工藝參數值進行比較，并根據判斷當前工藝參數值是否合理確定是否更新修正當前工藝參數值。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的一種基于指令域分析的數控加工工藝參數動態優化方法，其中，在提取特征值和計算合理工藝參數值后，指令特征將以柱狀圖的方式動態顯示在界面上，柱狀圖的寬度由該行插補點的個數決定，如果發現某行的插補特征值超過理想的閾值，超出部分用一定顏色方塊顯示。