[發明專利]一種近晶相液晶屏的電量檢測方法

有效

• 申請號: 201510092871.5
• 申請日: 2015-03-02
• 公開（公告）號: CN105448217B
• 公開（公告）日: 2018-07-27
• 發明（設計）人: 任宇
• 申請（專利權）人: 蘇州漢朗光電有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R29/24;G01R19/00
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 滿靖

1.一種近晶相液晶屏的電量檢測方法，其特征在于，它包括如下步驟：

1)在初始化近晶相液晶屏時，對于施加在行或列上的具有m個脈沖的低頻高壓脈沖，去除最前面的a個脈沖和最后面的b個脈沖，對余下位于中間的(m-a-b)個脈沖中的每個脈沖的電壓值進行平均采樣p次并對p次采樣值求得采樣平均值，從而在得到的(m-a-b)個采樣平均值中取最小值作為初始化階段的電量信息；

2)在掃描驅動近晶相液晶屏時，對于施加在行上的具有n個脈沖的高頻高壓脈沖，去除最前面的c個脈沖和最后面的d個脈沖，對余下位于中間的(n-c-d)個脈沖中的每個脈沖的電壓值進行1次采樣，得到(n-c-d)個采樣值并對(n-c-d)個采樣值求取平均值來作為行采樣值，從而在對掃描驅動近晶相液晶屏各行所得到的所有行采樣值中取最小值作為掃描驅動階段的電量信息。

2.如權利要求1所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述電量檢測方法還包括步驟：在初始化階段的電量信息與掃描驅動階段的電量信息中取最小值，以作為所述近晶相液晶屏整個驅動過程的電量信息。

3.如權利要求1所述的電量檢測方法，其特征在于：

在步驟1)中，對脈沖的電壓值進行平均采樣p次是指對除去該脈沖的最前面t1時間和最后面t2時間后的余下時間段內的電壓值進行p次平均采樣。

4.如權利要求1或2或3所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述低頻高壓脈沖為低頻高壓正負脈沖或低頻高壓單向脈沖，其中，低頻高壓單向脈沖為低頻高壓正向脈沖或低頻高壓負向脈沖；

所述高頻高壓脈沖為高頻高壓正負脈沖或高頻高壓單向脈沖，其中，高頻高壓單向脈沖為高頻高壓正向脈沖或高頻高壓負向脈沖。

5.如權利要求4所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述低頻高壓正負脈沖的電壓幅值小于閾值電壓幅值，兩倍的所述低頻高壓正負脈沖的電壓幅值大于閾值電壓幅值且小于3倍的閾值電壓幅值，所述低頻高壓正負脈沖的頻率介于10Hz與200Hz之間、脈沖個數介于10與1600之間，a、b、m為偶數，2≤a≤2(m-1)，2≤b≤2(m-1)，4≤(a+b)≤2(m-2)，1≤p≤100。

6.如權利要求4所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述低頻高壓單向脈沖的電壓幅值大于閾值電壓幅值，兩倍的所述低頻高壓單向脈沖的電壓幅值小于3倍的閾值電壓幅值，所述低頻高壓單向脈沖的頻率介于10Hz與200Hz之間、脈沖個數介于5與800之間，1≤a≤(m-1)，1≤b≤(m-1)，2≤(a+b)≤(m-2)，1≤p≤100。

7.如權利要求4所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述高頻高壓正負脈沖的電壓幅值小于閾值電壓幅值，兩倍的所述高頻高壓正負脈沖的電壓幅值大于閾值電壓幅值且小于3倍的閾值電壓幅值，所述高頻高壓正負脈沖的頻率介于1KHz與10KHz之間、脈沖個數介于10與1600之間，c、d、n為偶數，2≤c≤2(n-1)，2≤d≤2(n-1)，4≤(c+d)≤2(n-2)。

8.如權利要求4所述的電量檢測方法，其特征在于：

所述高頻高壓單向脈沖的電壓幅值大于閾值電壓幅值，兩倍的所述高頻高壓單向脈沖的電壓幅值小于3倍的閾值電壓幅值，所述高頻高壓單向脈沖的頻率介于1KHz與10KHz之間、脈沖個數介于5與800之間，1≤c≤(n-1)，1≤d≤(n-1)，2≤(c+d)≤(n-2)。