[發明專利]測試方法和系統在審
| 申請號: | 201510092260.0 | 申請日: | 2015-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN104657270A | 公開(公告)日: | 2015-05-27 |
| 發明(設計)人: | 張多玉 | 申請(專利權)人: | 北京嘀嘀無限科技發展有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 方法 系統 | ||
1.一種測試方法,包括:
響應于輸入與測試對象相關的參數,向所述測試對象發送測試請求;
接收來自所述測試對象的、與所述參數相對應的返回值;以及
通過驗證所述返回值而獲得測試結果。
2.根據權利要求1所述的方法,其中通過驗證所述返回值而獲得測試結果包括:
將所述返回值和已存儲的與所述參數相對應的驗證值進行比較;
在所述返回值等于所述驗證值時,將所述測試結果確定為合格;以及
在所述返回值不等于所述驗證值時,將所述測試結果確定為不合格。
3.根據權利要求1所述的方法,還包括:
根據所述參數中的已被測試的參數與所述參數的比例,確定參數測試的覆蓋率;以及
在所述參數測試的覆蓋率小于預定閾值時,繼續測試所述參數中的除所述已被測試的參數之外的參數。
4.根據權利要求1所述的方法,還包括:
根據所述參數中的已被測試的參數與所述參數的比例,確定參數測試的覆蓋率;
在所述參數測試的覆蓋率小于第一預定閾值時,將測試質量評估為低;
在所述參數測試的覆蓋率大于或等于所述第一預定閾值且小于第二預定閾值時,將所述測試質量評估為中;以及
在所述參數測試的覆蓋率大于或等于所述第二預定閾值時,將所述測試質量評估為高。
5.根據權利要求1所述的方法,其中響應于輸入與測試對象相關的參數,向所述測試對象發送測試請求包括:
對輸入的所述參數進行封裝;以及
響應于輸入所述參數,向所述測試對象發送所述測試請求。
6.根據權利要求1所述的方法,其中所述測試對象是應用程序編程接口。
7.一種測試系統,包括:
測試請求發送裝置,被配置為響應于輸入與測試對象相關的參數,向所述測試對象發送測試請求;
返回值接收裝置,被配置為接收來自所述測試對象的、與所述參數相對應的返回值;以及
驗證裝置,被配置為通過驗證所述返回值而獲得測試結果。
8.根據權利要求7所述的系統,其中所述驗證裝置包括:
比較單元,被配置為將所述返回值和已存儲的與所述參數相對應的驗證值進行比較;以及
測試結果確定單元,被配置為:
在所述返回值等于所述驗證值時,將所述測試結果確定為合格;以及
在所述返回值不等于所述驗證值時,將所述測試結果確定為不合格。
9.根據權利要求7所述的系統,還包括:
覆蓋率確定裝置,被配置為根據所述參數中的已被測試的參數與所述參數的比例,確定參數測試的覆蓋率,
其中在所述參數測試的覆蓋率小于預定閾值時,所述測試系統繼續測試所述參數中的除所述已被測試的參數之外的參數。
10.根據權利要求7所述的系統,還包括:
覆蓋率確定裝置,被配置為根據所述參數中的已被測試的參數與所述參數的比例,確定參數測試的覆蓋率;以及
測試質量評估裝置,被配置為:
在所述參數測試的覆蓋率小于第一預定閾值時,將測試質量評估為低;
在所述參數測試的覆蓋率大于或等于所述第一預定閾值且小于第二預定閾值時,將所述測試質量評估為中;以及
在所述參數測試的覆蓋率大于或等于所述第二預定閾值時,將所述測試質量評估為高。
11.根據權利要求7所述的系統,其中所述測試請求發送裝置包括:
封裝單元,被配置為對輸入的所述參數進行封裝;以及
發送單元,被配置為響應于輸入所述參數,向所述測試對象發送所述測試請求。
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